Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: profile litologiczne

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Możliwości wykorzystania profili litologicznych opracowywanych na podstawie wyników pomiarów składu chemicznego metodą pXRF na próbkach rdzeniowych i okruchowych

Kubik Benedykt, Kowalska Sylwia, Skupio Rafał, Zagórska Urszula, Wolański Krzysztof

Wiadomości Naftowe i Gazownicze

2020

R. 23, Nr 2 (256)

4--8

Określenie profilu litologicznego na podstawie pomiarów geofizycznych składu chemicznego sondami typu GEM lub LithoScaner staje się coraz częściej wykorzystywanym narzędziem interpretacji geofizycznej. Analogiczny do pomiarów GEM profil chemiczny, można uzyskać na podstawie pomiarów wykonywanych przenośnym spektrometrem pXRF. Artykuł przedstawia metodykę określania składu mineralnego przewiercanych skał na podstawie tanich i szybkich pomiarów pXRF, w oparciu o modele łączące wyniki analizy składu chemicznego z wynikami badań składu mineralnego (XRD). Dużą zaletą proponowanej metody jest możliwość jej stosowania na próbkach okruchowych, jak również na archiwalnych rdzeniach. Profile litologiczne wykonywane na podstawie analizy składu chemicznego mogą być również stosowane przy profilowaniu geologicznym, dzięki czemu równolegle z opisem sedymentologicznym możemy śledzić zmiany składu mineralnego analizowanych skał, mogą stanowić podstawę interpretacji w ośrodkach cienkowarstwowych, czy wspomagać sterowanie trajektorią otworów kierunkowych.

Determination of lithological profile on the basis of geophysical measurements of chemical composition with GEM or LithoScaner probes is becoming a more and more frequently used tool for geophysical interpretation. A chemical profile analogous to GEM measurements can be obtained on the basis of measurements performed with a portable pXRF spectrometer. The paper presents a methodology for determining the mineral composition of drilled rocks on the basis of cheap and fast pXRF measurements, based on models combining the results of chemical composition analysis with the results of mineral composition tests (XRD). A great advantage of the proposed method is the possibility to use it on aggregate samples, as well as on archival cores. Lithological profiles made on the basis of chemical composition analysis can also be used in geological profiling, so that parallel to sedimentological description we can track changes in mineral composition of analyzed rocks. They can be the basis for interpretation in thin-layer centers or support trajectory control of directional holes.

Zachowanie pokrytyczne skał w profilu litologicznym złoża LGOM.

Cyrul T.

Rudy i Metale Nieżelazne

1999

R. 44, nr 12

653-660

Zaprezentowano wyniki badań własności skał ze złoża ZG RUDNA, które prowadzone są w Instytucie Mechaniki Górotworu PAN w Krakowie. Szczególną uwagę zwrócono na zachowanie pokrytyczne skał w próbie jednoosiowego ściskania, wyróżniając dwie klasy zachowań, w tym w pierwszej klasie trzy modele. Ten aspekt badania zachowania skał umożliwia prasa Instron 8500 ze sprzężeniem zwrotnym, w której prowadzono badania. Wskazano, że występowanie skał klasy II zwiększa zagrożenia występowania tąpań w przestrzeni eksploatacyjnej (roboczej).

The characteristic peculiarities of the ZG RUDNA's deposit-rocks, which were investigated in Instytut Mechaniki Górotworu PAN in Cracow are presented. Special attention was given to the after-critical behaviour of the rocks during uniaxial pressure, where two categories of the behaviour were distinguished, with three models at the first category. This aspect of behaviour was enabled by the press Instron 8500 with reversible linkage. It was shown that the presence of the rocks of the second category increases the threat of crumps in the exploitation space.