PL
 |
EN
Ograniczanie wyników
Czasopisma help
  1. 1 Ceramic Materials
  2. 1 Materiały Ceramiczne
Autorzy help
  1. 1 Tuleta M.
Lata help
  1. 1 2013
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  profile głębokościowe SIMS
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Badanie powierzchni szkła wiązką jonów
Tuleta M.
Materiały Ceramiczne
|
2013
|
T. 65, nr 1
28--30
PL
Powierzchnia szkła sodowo glinokrzemianowego była analizowana za pomocą spektrometrii masowej jonów wtórnych (SIMS). Badano wpływ wiązki jonów tlenu i argonu na profile głębokościowe poszczególnych składników szkła. Otrzymane wyniki interpretowano w oparciu o mechaniczne i polowe oddziaływanie wiązki jonów z powierzchnią szkła.
EN
The surface of sodium aluminosilicate glass was analysed by means of secondary ion mass spectrometry (SIMS). An influence of oxygen and argon ion beams on depth profiles of particular glass constituents was investigated. The results obtained were interpreted on the basis of the mechanical and field interactions of the ion beam with the glass surface.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.