PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 5

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  procesy degradacji
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Oddziaływanie paliwa etanolowego E85 na właściwości użytkowe oleju silnikowego
Jakóbiec J., Żółty M.
Nafta-Gaz
|
2017
|
R. 73, nr 9
627--634
PL
W artykule przedstawiono wyniki prac, których celem było określenie stopnia degradacji smarowego oleju silnikowego eksploatowanego w silniku o zapłonie iskrowym typu flex fuel, zasilanym paliwem wysokoetanolowym składającym się z 85% (V/V) bioetanolu pierwszej generacji i z 15% (V/V) konwencjonalnej benzyny węglowodorowej. Jako obiekt badań wytypowano olej silnikowy zalecany do smarowania tego rodzaju silników, o klasie lepkości SAE 5W-30 i klasie jakości ACEA A5/B5. Monitorowanie właściwości przedmiotowego oleju prowadzone było w czasie trwania testu silnikowego (po 100 i 600 godzinach pracy), jak również po jego zakończeniu (tj. po 1100 godzinach rzeczywistej pracy silnika).
EN
The article presents results of work aimed at determining the degree of degradation of a lubricating engine oil used in spark ignition Flex Fuel automobile engine (FFV). The FFV engine was powered by a high-ethanol fuel consisting of 85% (V/V) of firstgeneration bioethanol and 15% (V/V) of conventional hydrocarbon gasoline. As an object of the study, an engine oil was recommended for this type of engine lubrication, the SAE 5W-30 viscosity grades and ACEA A5/B5 quality grade engine oil was selected. Monitoring of the properties of the subjected oil was carried out during the engine test after 100 and 600 hours of operation, as well as after its completion, e.g. after 1100 hours of real engine operation.
2
Content available Szacowanie czasu użytkowania superkondensatorów na podstawie przyspieszonych testów starzeniowych z wykorzystaniem modeli stochastycznych
Tarczyński W., Kopka R.
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
|
2016
|
No. 86
229--240
PL
W artykule przedstawiono sposób szacowania rozkładu funkcji niezawodności superkondensatorów z zastosowaniem przyśpieszonych testów starzeniowych. Przyśpieszenie procesu starzenia zrealizowano poprzez przyjęcie wyższego napięcia pracy kondensatora, a jego niezawodność określono na podstawie pomiaru zmian wartości szeregowej rezystancji zastępczej. Rozkład funkcji niezawodności wyznaczono z wykorzystaniem stochastycznych modeli różniczkowych. Parametry modeli wyznaczono na podstawie obserwacji zmian parametrów kondensatora na początku testowania. W celu wyeliminowania wpływu innych czynników przyspieszających procesy starzenia, kondensator był umieszczony w komorze temperaturowej zapewniającej stała temperaturę. W artykule opisano budowę stanowiska pomiarowego, algorytm prowadzenia badań, procedurę szacowania stopnia niezawodności oraz uzyskane na jej podstawie wyniki.
EN
Paper presents the procedure of estimating the reliability distribution of supercapacitors based on accelerated aging tests. Acceleration of the aging process was implemented through the higher operating voltage of the capacitor, and their reliability was determined by measuring changes in capacitance and equivalent series resistance. Distribution of reliability function was determined using stochastic differential models. Model parameters were derived based on the observed changes of the reliability parameters. In order to eliminate the influence of the other accelerating factors the capacitor are placed in a chamber at a constant temperature. The article describes the test setup, measuring procedure and the estimation method.
3
Content available The modeling of non-homogenous structure of power cables insulation systems
Adamczyk B., Florkowska B., Pędzisz K.
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
|
2010
|
Nr 28
27-30
EN
Among exploitation stresses of power cables are electrical stresses, created by electric field strength in an insulation system. Insulation system of power cables typically has a non homogenous distribution of the electric field strength, where its maximum value is critical. Local defects in a structure of power cables influence the field distribution. Its value around defects can exceed the working electric field strength and initial field of partial discharge inception. The electric field strength in medium voltage cables with ethylene-propylene insulation are analyzed in the paper. Local defects similar to the exploitation ones were assumed as potential sources of partial discharges. The presented patterns of electric field strength illustrate the impact of the defect type and its localization in the insulation system on changes of field distribution and local field strength increase.
PL
Do zespołu narażeń eksploatacyjnych kabli elektroenergetycznych należą narażenia elektryczne, jakie stanowi oddziaływanie pola elektrycznego w izolacji. Układ izolacyjny kabli charakteryzuje nierównomierny rozkład pola elektrycznego, którego wartość maksymalna oznacza robocze natężenia pola dla danej konstrukcji. Lokalne defekty w izolacji powodują, że jej struktura staje się niejednorodna, ulega zmianie rozkład pola elektrycznego. Jego wartość w otoczeniu defektów może przewyższyć natężenie robocze w kablu oraz natężenie początkowe wyładowań niezupełnych. W artykule przedstawiono analizę rozkładu pola elektrycznego w kablu średniego napięcia o izolacji etylenowo-propylenowej. Przyjęto warunki występowania w jego konstrukcji lokalnych defektów w izolacji, które w eksploatacji mogą stać się ośrodkami wyładowań niezupełnych. Przedstawiono obrazy pola elektrycznego ilustrujące wpływ rodzaju defektu i jego usytuowania w izolacji na zmiany rozkładu pola i lokalny wzrost jego wartości.
4
Content available remote Estymacja parametrów niezawodnościowych półprzewodnikowych źródeł światła
Kopka R.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2009
|
R. 85, nr 11
313-316
PL
Coraz częściej półprzewodnikowe źródła światła zastępują tradycyjne żarówki. Ich bardzo duża żywotność wynika z własności emisji światła ze struktury półprzewodnika. To praktycznie eliminuje uszkodzenia związane z całkowitym zanikiem świecenia. Jednak zachodzące w takiej strukturze procesy degradacji istotnie zmniejszają ilość emitowanego światła. W pracy przedstawiono wyniki badań modelowana matematycznego pozwalającego szacować parametry niezawodnościowe półprzewodnikowych źródeł światła zarówno w oparciu o obserwację czasów do uszkodzeń nagłych jak i stopniowych, związanych z zachodzącymi procesami degradacji.
EN
Semiconductor light sources replace traditional incandescent lamp. Their very long durability is a consequence of performance of light emission from semiconductor structure. This almost completely eliminates hard failures results. But degradation processes existing in such structure seriously reduce the intensity of light emitted, generating soft failures. The paper presents mathematical modeling results enabling to estimate the reliability parameters of semiconductor light sources based on hard and soft failures as a result of degradation processes.
5
Radiation-induced degradation processes in vitreous chalcogenide semiconductors: optical changes
Golovchak R.
Prace Naukowe. Chemia / Wyższa Szkoła Pedagogiczna w Częstochowie
|
2001
|
Vol. 5
199--207
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.