Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: procesor Intel Pentium

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Równoległa symulacja uszkodzeń w samotestowalnych układach cyfrowych na procesorze Intel Pentium

Bojanowicz D.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1999

Vol. 40, nr 5

22-26

Komputerowa symulacja samotestowalnych układów cyfrowych VLSI jest procesem bardzo czasochłonnym. Z tego powodu stale poszukiwane są nowe rozwiązania, optymalizujące proces symulacji i skracające jego czas. Pojawienie się na rynku superskalarnego mikroprocesora Pentium firmy Intel, daje możliwość zrównoleglenia obliczeń symulowanych układów cyfrowych i w ten sposób umożliwia niemal dwukrotne skrócenie czasu potrzebnego do wykonania symulacji. W artykule przedstawiono nową metodę symulacji uszkodzeń w samotestowalnych układach cyfrowych, zoptymalizowaną dla mikroprocesora Pentium. Ponadto omówiono zasady skalowania programów pisanych dla tego procesora i zaprezentowano kilka praktycznych przykładów.

Computer-made simulating of self-testing VLSI digital circuits is time consuming process. This is why new methods are still being developed to optimise the simulation process and to reduce its duration. Superscalar microprocessor Pentium, introduced to the market by Intel Corporation, brings the possibility to parallels the process of digital circuits simulating and in such a way enables reducing nearly twice the time needed for the simulating process. The paper presents a new method of fault simulating, intended for selftesting digital circuits and optimised for Pentium microprocessor. Additionally the scaling principles are presented concerning to the task of preparing programmes for this processor and some practical examples are shown.