Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Toczek W.

1 2010

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: probabilistic model of measurement process

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Wyznaczanie miar jakości testu z zastosowaniem probabilistycznego modelu pomiaru

Toczek W.

Pomiary Automatyka Kontrola

2010

R. 56, nr 1

15-17

Zaproponowano szybką analityczną metodę wyznaczania miar jakości testu na etapie jego projektowania. Metoda bazuje na dwóch modelach probabilistycznych - modelu pomiaru oraz modelu odpowiedzi układu testowanego na pobudzenie sygnałem testującym. Podano przykład wyznaczenia straty uzysku spowodowanej niepewnością progu komparatora w układzie testującym wyrób elektroniczny.

In the paper a rapid model-based method of estimating indicators of test quality at the test design stage is considered. The test metrics such as yield coverage (1), yield loss (2), defect level (3) etc. are calculated with a precision of ppm (parts per million). The novelty of the approach is use for calculations a probabilistic model of the test (9), adapted from a general probabilistic model of the measurement process proposed by Rossi [2], together with a probabilistic model of the circuit under test (CUT) performances (10). It is assumed that the CUT performances follow a generalized Rayleigh distribution (Fig. 1), derived by the author [3]. An example is included to illustrate the calculation of yield loss as a function of the comparator threshold (Fig. 2) in the tester of the electronic CUT. The results are positively verified by the Monte Carlo method. A large population of instances is rapidly generated (Tab. 1) from the probabilistic model of the CUT. These data are used to compute test metrics.