Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

High-accuracy surface topography measurements of abrasive tools using a 3D optical profiling system

Kapłonek W., Nadolny K., Tomkowski R., Valicek J.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2012

|

R. 58, nr 5

443-447

EN

This paper presents and discusses the proposed use of the Talysurf CLI 2000 system for performing high-accuracy measurements of the surface topography of abrasive tools. Specifically, the paper presents a brief description of the Talysurf CLI 2000 system (Fig. 1), as well as one of its modes of use, involving the chromatic aberration phenomenon. The selected results of the analysis of the measurement data obtained for the surface of a small-sized flat grinding wheel 1-20×20×10 SG 80 M 8 V (Fig. 2) and relevant visualizations pertaining to this analysis are given in the paper as well. All analyses of the measurement data were carried out using the TalyMap Silver software (Figs. 3-4). The obtained experiment results confirmed a high degree of usefulness of Talysurf CLI 2000 and the dedicated software (TalyMap Silver) for high-accuracy measurements of abrasive tools (grinding wheels). Therefore, the use of optical analysis methods may be an interesting alternative to the methods currently utilized in the assessment of abrasive tools.

PL

We współczesnym przemyśle wytwórczym dąży się do uzyskania bardzo wysokiej jakości wykończenia powierzchni. Na uzyskanie zakładanej jakości ma wypływ szereg czynników związanych m.in. ze stanem makro- i mikrogeometrii powierzchni narzędzia ściernego. Ocena i odpowiednia analiza stanu powierzchni ściernic ma więc w tym kontekście znaczenie podstawowe. Może być ona prowadzona za pomocą różnego rodzaju systemów pomiarowych, wykorzystujących wybrane metody stykowe oraz metody optyczne. W odniesieniu do ściernic precyzyjne pomiary stykowe i ich analiza mogą okazać się niewystarczające lub trudne do przeprowadzenia. W takim przypadku muszą być one zastąpione lub uzupełnione pomiarami optycznymi. Stwarza to pewne komplikacje wynikające m.in. z każdorazowej kalibracji urządzeń, wprowadzania innych parametrówpomiaru dla każdej z metod, oddzielnej analizy uzyskanych danych za pomocą różnych typów oprogramowania komputerowego. Wymienione działania znacząco wpływają na czas, dokładność i koszt przeprowadzenia pomiarów. Jedną z propozycji rozwiązania ww. problemów może być zastosowanie nowej klasy zintegrowanych systemów pomiarowych, oferujących możliwość oceny badanego przedmiotu za pomocą różnych technik pomiarowych dostępnych na jednej platformie sprzętowej. W pracy zaproponowano wykorzystanie optycznego systemu profilometrycznego Talysurf CLI 2000 firmy Taylor-Hobson Ltd. do precyzy-jnych pomiarów topografii powierzchni narzędzi ściernych. Dokonano krótkiej charakterystyki urządzenia oraz opisano jeden z trybów pomiarów wykorzystujący zjawisko abberacji chromatycznej. W części eksperymentalnej zaprezentowano wybrane wyniki analiz i wizualizacji danych pomiarowych uzyskanych dla powierzchni małogabarytowej ściernicy płaskiej o oznaczeniu technicznym 1-20×20×10 SG 80 M 8 V. Analizy przeprowadzono w oprogramowaniu TalyMap Silver. Uzyskane wyniki potwierdziły dużą użyteczność zastosowanego systemu Talysurf CLI 2000 oraz szerokie możliwości dedykowanego oprogramowania TalyMap Silver, co może stanowić ciekawą alternatywę dla wykorzystywanych już metod oceny stanu narzędzi ściernych (ściernic).

2

A new, low cost, precise measurement card for testing of ultra-low power analog ASICs

Dalecki J., Talaśka T., Długosz R.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2011

|

Vol. 52, nr 12

32-35

EN

The paper presents a new, precise, 16-channel measurement card for ultra low power, analog and digital Application Specific Integrated Circuits (ASICs). The proposed system allows to test the circuits working either in the voltage (in the range from -4 to 4 V) or the current mode (in the range from 1 nA to 20 mA) witfi the resolution up to 20 bits, with a maximum frequency of a single channel up to 2 kHz. Each of the inputs can serve as an 'ideal' adjustable voltage or the current source. The advantage of the proposed system is a low price, high precision and the ability to operate simultaneously in two modes on each channel (i.e., as a reference signal or as the measuring channel). This feature is very important, as during the tests it is necessary to work with many different excitations and at the same time to perform measurements on all of the channels. The system is built from signal converters, analog-to-digital (ADC) and digital-to-analog (DAC) converters, multiplexers, operational amplifiers, STM32 microcontroller with the ARM Cortex-M3 core and the AVR microcontroller. The realized system features high stability and robustness against the noise.

PL

W publikacji przedstawiono nowy, 16-kanałowy system pomiarowy do testowania energooszczędnych, analogowych układów ASIC. Zaproponowany system pozwala na jednoczesne testowanie układów pracujących w trybie napięciowym i prądowym z rozdzielczością do 20 bitów, z maksymalną częstotliwością przypadająca na jeden kanał do 2 kHz. Każde z wejść może pracować jednocześnie, jako idealne regulowane ''idealne" źródło napięciowe lub prądowe. Podczas pomiarów napięcia i prądy na każdym z 16 kanałów (niezależnie od trybu) są ustawione na stałym poziomie. Zaletą proponowanego systemu, w przeciwieństwie do podobnych rozwiązań spotykanych na rynku, jest niska cena, wysoka precyzja i zdolność do jednoczesnej pracy w dwóch trybach na każdym kanale (tj. jako źródło sygnału, lub jako układ pomiarowy). Ta zaleta jest bardzo ważna podczas testów, gdzie mamy do czynienia z różnymi wymuszeniami i jednocześnie musimy wykonywać pomiary na wszystkich kanałach karty pomiarowej. System pomiarowy składa się z przetworników ADC i DAC, multiplekserów, wzmacniaczy operacyjnych, mikrokontrolerów STM32 z rdzeniem ARM i AVR. System charakteryzuje się duża stabilnością pomiarów i odpornością na szumy.

3

Quantum Hall effect: the fundamentals

Wysokiński K. I.

Metrology and Measurement Systems

|

2006

|

Vol. 13, nr 2

113-124

EN

The basic understanding of the physics behind and the reasons for very high precision of the resistivity ρxy quantisation in integer quantum Hall effect (IQHE) and the application of the effect in metrology to define a quantum resistance standard will be briefly discussed. We also mention some recent proposals concerning the application of the quantum Hall device as an efficient qubit for future quantum computers and end up with few remarks about the contribution of single electron devices to the realisation of standards and quantum metrology which seeks the ways to beat the accuracy of classic measurements.

PL

W pracy przedstawiono podstawy zjawiska i fizyczne powody pozwalające na precyzyjny pomiar oporności ρxy w warunkach całkowitego kwantowego zjawiska Halla. Omówiono zastosowanie zjawiska w metrologii jako wzorca oporności elektrycznej oraz propozycje zastosowania kwantowego zjawiskaHall do budowy qubitu - podstawowego elementu przyszłych komputerów kwantowych. Na zakończenie wykładu przedstawię kilka zagadnień związanych z zastosowaniem urządzeń jednoelektronowych w metrologii i tzw. metrologią kwantową, która w wykorzystaniu kwantowych praw szuka metod pomiaru z precyzją większą niż 1/√N.