Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Metodyka wyznaczania odkształceń mostu suwnicowego

Bryś Henryk, Ćmielewski Kazimierz

Przegląd Geodezyjny

|

2020

|

R. 92, nr 8

16--18

PL

W pracy przedstawiono zintegrowaną technologię wyznaczania geometrii odkształcenia mostu suwnicy w stanie statycznym z wykorzystaniem precyzyjnych tachimetrów elektronicznych o prospektowych parametrach technicznych S_α=0,15 mgon oraz S_D=0,5+1 ppm. Wyznaczone analitycznie parametry geometryczne (kąty i długości), pozwalają na precyzyjną interdyscyplinarną interpretację zaistniałych w czasie i przestrzeni zmian odkształceń.

EN

The paper presents the integrated technology for determining the geometry of the crane bridge deformation in a static state using precise electronic total stations with prospective technical parameters Sα = 0.15 mgon and SD = 0.5 + 1 ppm. Analytically determined geometrical parameters (angles and lengths) allow for precise interdisciplinary interpretation of deformations occurring in time and space.

2

Możliwości wykorzystania skanera laserowego do pomiarów precyzyjnych

Zator S., Michalski P.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2012

|

R. 58, nr 11

1013-1015

PL

W artykule przedstawiono możliwości wykorzystania stacjonarnego skanera laserowego do wykonywania pomiarów precyzyjnych. Wykonano analizę wpływu zagęszczenia punktów w obszarze, przez zwielokrotnienie skanowania, na niepewność pomiaru przesunięcia płaszczyzny. Otrzymane dane porównano z wartościami dostarczonymi przez producenta urządzenia. Na bazie przeprowadzonych analiz zaprezentowano możliwości zastosowania stacjonarnego skanera laserowego do pomiaru współosiowości elementów.

EN

In this paper possibilities of using a desktop laser scanner for precise measurements are presented. Test parameters of the laser scanner for verification of the obtained results are given. In Section 3 the data structure obtained from the scan is shown. There is performed analysis of the accuracy of measuring the distance to the plane and the influence of local density of points in the scan. The data is represented as a single line which was scanned ten times from one scanner position. For the single scan data line an approximation was made using the linear regression method. The data obtained were compared with the values provided by a manufacturer. There is shown the difference between a dual scan and multiple scans performed independently, presenting the potential of both methods. In addition, the paper describes the applicability of a desktop laser scanner to measurements of the misalignment of components. There are also given limitations of application of the test scanner surface structure resulting from a test object.

3

A new, low cost, precise measurement card for testing of ultra-low power analog ASICs

Dalecki J., Talaśka T., Długosz R.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2011

|

Vol. 52, nr 12

32-35

EN

The paper presents a new, precise, 16-channel measurement card for ultra low power, analog and digital Application Specific Integrated Circuits (ASICs). The proposed system allows to test the circuits working either in the voltage (in the range from -4 to 4 V) or the current mode (in the range from 1 nA to 20 mA) witfi the resolution up to 20 bits, with a maximum frequency of a single channel up to 2 kHz. Each of the inputs can serve as an 'ideal' adjustable voltage or the current source. The advantage of the proposed system is a low price, high precision and the ability to operate simultaneously in two modes on each channel (i.e., as a reference signal or as the measuring channel). This feature is very important, as during the tests it is necessary to work with many different excitations and at the same time to perform measurements on all of the channels. The system is built from signal converters, analog-to-digital (ADC) and digital-to-analog (DAC) converters, multiplexers, operational amplifiers, STM32 microcontroller with the ARM Cortex-M3 core and the AVR microcontroller. The realized system features high stability and robustness against the noise.

PL

W publikacji przedstawiono nowy, 16-kanałowy system pomiarowy do testowania energooszczędnych, analogowych układów ASIC. Zaproponowany system pozwala na jednoczesne testowanie układów pracujących w trybie napięciowym i prądowym z rozdzielczością do 20 bitów, z maksymalną częstotliwością przypadająca na jeden kanał do 2 kHz. Każde z wejść może pracować jednocześnie, jako idealne regulowane ''idealne" źródło napięciowe lub prądowe. Podczas pomiarów napięcia i prądy na każdym z 16 kanałów (niezależnie od trybu) są ustawione na stałym poziomie. Zaletą proponowanego systemu, w przeciwieństwie do podobnych rozwiązań spotykanych na rynku, jest niska cena, wysoka precyzja i zdolność do jednoczesnej pracy w dwóch trybach na każdym kanale (tj. jako źródło sygnału, lub jako układ pomiarowy). Ta zaleta jest bardzo ważna podczas testów, gdzie mamy do czynienia z różnymi wymuszeniami i jednocześnie musimy wykonywać pomiary na wszystkich kanałach karty pomiarowej. System pomiarowy składa się z przetworników ADC i DAC, multiplekserów, wzmacniaczy operacyjnych, mikrokontrolerów STM32 z rdzeniem ARM i AVR. System charakteryzuje się duża stabilnością pomiarów i odpornością na szumy.