Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: powłoki dekoracyjne

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Świetlne właściwości szkieł z kolorowymi interferencyjnymi powłokami typu TiO2/Ti otrzymanymi metodą magnetronową

Skowroński Ł., Strauss O.

Postępy w Inżynierii Mechanicznej

2018

nr 11(6)

69--77

Powłoki funkcjonalne nakładane na szkło modyfikują jego cechy lub nadają mu zupełnie nowe właściwości, zmieniając jednocześnie właściwości optyczne całego układu (warstwa/warstwy-podłoże). Interferencyjne kolorowe powłoki dekoracyjne typu TiO2/Ti/TiO2/szkło otrzymano z zastosowaniem magnetronu przemysłowego. Świetlne właściwości otrzymanych układów określono zgodnie z normą PN-EN 410. Wykazano, że zarówno grubości warstw TiO2, jak i Ti znacząco wpływają na parametry zdefiniowane w wyżej wymienionej normie.

Functional coatings deposited on glass modify its features or give it completely new properties, simultaneously changing optical properties of the whole system (layer/layers-substrate). Interference decorative TiO2/Ti/TiO2/glass coatings were produced using magnetron sputtering technique at industrial conditions. Luminous properties of the obtained systems were determined according norm EN 410. Showed that thickness of both TiO2 and Ti significantly have an influence on parameters defined in the above mentioned norm.

Decorative titanium carbonitride coatings.

Kula P., Januszewicz B.

Inżynieria Materiałowa

2001

R. XXII, nr 4

505-507

The deposition parameters and results of titanium carbonitride coatings investigations are shown in this paper. Also results and comparison between the colorimetric measurements made with use of typical industrial device and the peripheral computer device - the scanner are presented.

W pracy przedstawiono parametry nanoszenia i wyniki badań dekoracyjnych warstw węglikoazotków tytanu. Przedstawiono także porównanie wyników badań kolorymetrycznych wykonanych przy użyciu standardowego urządzenia przemysłowego z wynikami uzyskanymi przy pomocy skanera.