Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: pomiary rezystancji termicznej tranzystorów

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Pomiary rezystancji termicznej tranzystora MTD20N06V

Górecki K., Zarębski J., Piotrowicz M., Krupa J.

Mikroelektronika i Informatyka : prace naukowe

2005

Z. nr 5

235-241

Praca dotyczy pomiarów rezystancji termicznej tranzystora mocy MOS typu MTD20NO6V Pomiary wykonano przy wykorzystaniu metody optycznej oraz metody elektrycznej dla różnych punktów pracy badanego tranzystora oraz dla różnych warunków jego chłodzenia. Wyznaczono także rozkłady temperatury na powierzchni struktury badanego elementu.

Pomiary rezystancji termicznej tranzystorów mocy z wykorzystaniem metod pirometrycznych

Górecki K., Zarębski J.

Pomiary Automatyka Kontrola

2003

R. 49, nr 1

41-44

Praca dotyczy pomiarórw rezystancji termicznej wybranych tranzystorów mocy przy wykorzystaniu metod pirometrycznych. Zamieszczono szereg wyników pomiarów tego parametru w funkcji mocy wydzielanej w elemencie, uzyskanych przy zastosowaniu różnych radiatorów obudów i orientacji przestrzennej badanych tranzystorów. Zbadano również nierównomierność przestrzennego rozkładu temperatury w badanej strukturze.

In this paper the problem of measurements of the thermal resistance (Rth) of the selected power transistors with the use of the pirometric method is considered. The measuremental results Rth of bipolar transistors 2N3055 and MOS transistors IRF840 for the dissipated power changing as well as for the various kinds of device cases the temperature distribution on the chip has been estimated.