Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: pomiary rentgenowskie

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Roentgenography method implementation at intrinsic residual stress measurement in surface layer of drawing die eyelets.

Broniec Z., Daca J., Figiel W.

Zagadnienia Eksploatacji Maszyn

2006

Vol. 41, nr 2

19-28

Object of research was intrinsic residual stress determination in surface layer of drawing die eyelet. Considering Euclid surface specifity it was elaborated new method of measurements. Research measurement data analysis allowed conclude some new wear mechanism ideas. Determination of first type stress value in surface layer of wire - drawing eyelets is based on X-ray radiology principle theory. It was working out new method of the intrinsic stress determination with taking account of the specific surface tool geometry. Acquired research results were processed by comparative analysis. Measurement results of the respective series of investigated tools (eyelets) were compared to each other and later were under confrontation with other research results of the surface layer of wire - drawing eyelets.

Wyznaczenie naprężeń pierwszego rodzaju w warstwie wierzchniej oczek ciągadeł oparto na teoretycznych podstawach metody rentgenowskiej. Z uwagi na geometrię badanych powierzchni opracowano nową metodę określania naprężeń własnych. Uzyskane wyniki badań poddano analizie porównawczej. Porównań dokonano między wynikami poszczególnych serii badanych narzędzi oraz skonfrontowano je z wynikami innych badań warstwy wierzchniej oczek ciągadeł.

New challenge for instrumentation in lab and industry: X-ray measurements on surfaces of large components.

Haase A.

Inżynieria Materiałowa

2002

R. XXIII, nr 5

707-707

A new Diffractometer 'ETA' for surface gradient investigations has been designed to study polycrystalline materials in the near surface region. In contrast to standard instrument geometry for phase, texture and stress analysis on homogeneous materials it is possible to perform measurements on materials with gradient fields like stress, texture and composition gradient of some combination of it. The new 5-circle diffractometer concept allows for a Theta-Theta Bragg reflection condition a sample rotation Eta around the scattering vector for fixed positions (Phi, Chi) with respect to the sample system. Information of depth distribution of gradients compared to classical average penetration results can be described in applications of thin films or gradient standards.

Nowy dyfraktometr "Eta" do pomiaru podpowierzchniowych gradientów został skonstruowany tak, by zbadać polikrystaliczne materiały w obszarach w warstwach podpowierzchniowych. W przeciwieństwie do geometrii standardowych urządzeń do badania faz, tekstur i analizy naprężeń w jednorodnych materiałach, tutaj możliwe jest przeprowadzenie pomiarów dla materiałów z gradientowym polem naprężeń, tekstury i gradientem składu chemicznego lub kombinacji powyższych. Koncepcja nowego 5-cio łukowego dyfraktometru pozwala na: spełnienie warunków odbicia Braggowskiego typu Theta-Theta, rotacji próbki ETA dookoła wektora rozproszenia dla stałej pozycji (Phi, Chi) w odniesieniu do systemu próbki. Informacje odnośnie głębokości dystrybucji gradientów porównane do klasycznej średniej penetracji mogą być opisane w zastosowaniach do cienkich folii lub gradientowych standardów.