Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  pomiary mikroskopowe
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
W referacie przedstawiono metodę rekonstrukcji defektów 3D, wykorzystującą zjawisko głębi ostrości w układach optycznych mikroskopów. Przedstawiono stanowisko oparte na działaniu mikroskopu cyfrowego, a także algorytm uzyskiwania trójwymiarowych obrazów. Wykorzystując opisane stanowisko wykonano pomiary geometrii 3D wad powstałych w procesach gięcia i wytłaczania.
EN
The paper presents a method of 3D reconstruction of defects, using the phenomenon of low depth of field in the microscope system. The components of the measurement system based on a digital microscope, and the algoritm for obtaining three-dimensional images were discussed. Next, the examples of 3D defect reconstruction were presented for bending and stretching processes.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.