Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2004

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: pomiary kształtu i odkształcenia

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Fringe projection system using holographic registration to measure the surface shape and deformation

Prytulak M., Kozacki T., Jóźwicki R.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2004

Vol. 45, nr 8-9

290-292

In the paper a novel, simple and inexpensive setup for surface shape and deformation measurements is proposed. The method uses fringe projection combined with digital holography. First a fringe image projected onto the surface under the test is registered using digital holography without any optical system. Next, the fringe image is reconstructed from the hologram allowing the determination of the surface shape. Small displacements are measured with digital holographic interferometry and larger ones comparing the shapes determined for two object states. The results obtained by experimental means together with a discussion about the limitations and further possibilities are presented.

W pracy proponowana jest nowa metoda pomiaru kształtu i deformacji powierzchni. Bazuje ona na układzie projekcji prążków interferencyjnych oraz holografii cyfrowej. Obraz prążkowy jest projektowany na powierzchnię badanego przedmiotu i rejestrowany przy użyciu holografii cyfrowej bez używania obiektywu odwzorowującego. Następnie interferogram jest rekonstruowany z hologramu i używany jest do wyznaczenia kształtu powierzchni. Małe deformacje powierzchni wyznaczane są za pomocą techniki interferometrii holograficznej, natomiast większe przez porównanie dwóch kształtów wyznaczonych dla różnych stanów przedmiotu badanego. Artykuł zawiera wyniki przeprowadzonych badań wraz z dyskusją na temat zdolności pomiarowej oraz ograniczeń prezentowanej metody.