Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: pomiar wilgotności i temperatury

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Układ kontroli parametrów środowiskowych w komorze pomiarowej mikroskopu NC-AFM

Sikora A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2005

Vol. 46, nr 12

81-82

Mikroskopia bliskiego pola jest jedną z metod diagnostyki powierzchni w skali mikro-i nanometrowej. Ponieważ uzyskane wyniki zależeć mogą od stanu powierzchni istotna jest kontrola warunków w komorze pomiarowej. Przedstawiono rozwiązanie umożliwiające pomiar temperatury oraz wilgotności powietrza przy użyciu cyfrowego czujnika firmy Sensirion.

Near Field Microscopy is one of diagnostic methods of the surface in micro-and nanoscale. Imaging quality is connected to environment conditions in the chamber. The article presents a setup which allow to measure relative humidity and temperature. The measurement is performed with digital sensor made by Sensirion company.