Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

The Process of Vacuum Formation in the Shrinkage Cavity at Castings Crystallization

Khrychikov V., Semenov O., Meniailo H., Aftandiliants Y., Gnyloskurenko S.

Archives of Foundry Engineering

|

2022

|

Vol. 22, iss. 4

79--84

EN

The formation process of one of the most common casting defects, a shrinkage depression concerned to shrinkage cavity, was studied. The methodology, device and the experimental set up were developed to study the shrinkage cavity growth. The kinetics of vacuum formation in the cavity of the spherical casting of Al-Si-Mg alloy at its solidification in the sand-and-clay form was investigated. The data were analysed taking in mind the temperature variation in the centre of crystallizing casting. The causes of the shrinkage depression in castings were clarified. It was determined that atmospheric pressure leads to the retraction and curvature of metal layer on the surface of the casting with lower strength below which the shrinkage cavity is formed. To avoid such defects it was recommended to use the external or internal chills, feeders and other known technological methods. Deep shrinkage cavities inside the castings could be removed with an air flow through a thin tubular needle of austenitic steels for medical injections.

2

Wykorzystanie stanu przejściowego jonizacji impulsowej do pomiaru wysokiej próżni

Szczepaniak L.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2013

|

R. 89, nr 4

299-301

PL

Jedną z metod pomiaru wysokiej próżni jest metoda z wykorzystaniem termoemisji elektronowej. Nowa metoda impulsowa daje możliwość redukcji desoprcji termicznej co umożliwia poprawę dokładności pomiaru. Przedstawiona metoda umożliwia dalsze skrócenie czasu pomiaru ciśnienia wysokiej próżni z użyciem jonizacji impulsowej.

EN

One of method of measurement high vacuum pressure is the ionization which uses thermonic emission. New pulse ionization method give the reduction of thermal desorption and consequently give the better accuracy. Presented method has allowed further shortening of the pressure measurement of high vacuum using a pulse ionization.

3

Próżnia w mikrosystemach : nowe wyzwania

Górecka-Drzazga A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2011

|

Vol. 52, nr 8

13-15

PL

Burzliwy rozwój techniki Mikrosystemów oraz miniaturowych urządzeń Mikro- i Nanoelektroniki Próżniowej spowodował potrzebę opracowania nowych metod wytwarzania wysokiej i ultrawysokiej próżni w objętości mniejszej niż 1 cm³. Obecnie niską próżnię wytwarza się wykorzystując próżniowe procesy łączenia podłoży krzemowych i szklanych lub zintegrowany proces fabrykacji mikrourządzeń. Mikrosystemy próżniowe wytwarzane dla elektroniki, przemysłu samochodowego, lotniczego, kosmicznego muszą poprawnie pracować dłużej niż 10 lat. Dlatego zamknięte w hermetycznych obudowach w ostatnim etapie produkcji są sprawdzane na szczelność. Stosowane są różne metody, które mają jednak ograniczenia, gdy testowana objętość jest mniejsza niż 0,1 cm³. W pracy opisano stan wiedzy dotyczący metod badania nieszczelności, pomiaru próżni i wytwarzania próżni w mikroskali. Wydaje się, że dalszy rozwój techniki próżni jest ściśle związany z rozwojem technik mikroinżynieryjnych, które umożliwią budowę zintegrowanych miniaturowych urządzeń próżniowych. Mikrourządzenia te będą pracować jako czujniki, aktuatory, układy elektroniczne i jednocześnie posiadać elementy do wytwarzania i pomiaru wysokiej próżni.

EN

Rapid development of the microsystem technology and the miniature Micro- and Nanoelectronics devices resulted in the need to develop new methods of high and ultrahigh vacuum generation in a volume of less than 1 cm³. Currently, a low vacuum is produced using vacuum bonding processes for silicon and glass substrates or integrated fabrication process. Vacuum Microsystems manufactured for microelectronics, automotive, aviation, and space must work properly for more than 10 years. Therefore, enclosed in hermetic cases, in the final stage of production are tested for leaks. There are different methods that have limitations, when the test volume is less than 0.1 cm³. The paper describes the state of knowledge concerning the methods of leak testing, measurement of vacuum and vacuum generation in the microscale. It seems that the further development of vacuum technology is closely linked with the development microengineering techniques that will enable the construction of integrated miniature vacuum devices. These microdevices will operate as sensors, actuators, electronic circuits, and also have additional elements to generate and measure high vacuum.