Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Badanie fluktuacji czasu ustalania przerzutnika

Grzelak S., Zieliński M., Chaberski D., Wydźgowski L.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2007

|

R. 53, nr 9 bis

695--697

PL

Zjawisko metastabilności występujące w przerzutnikach podzielono na dwa różne efekty. Pierwszy dotyczy zwiększonego czasu propagacji, a drugi przypadkowości w ustalaniu stanu wyjściowego. Przedstawiono uogólniony model przerzutnika typu D wyzwalanego zboczem. Zaproponowano metodę pomiaru dodatkowego parametru zinterpretowanego jako poziom fluktuacji czasu ustalania, dla wprowadzonego modelu. Przeprowadzono pomiary przerzutników zaimplementowanych w strukturze FPGA wykonanej w technologii 180 nm. Wartość wprowadzonego parametru w modelu ma znaczenie w wysokorozdzielczej metrologii odcinków czasowych i może wpływać na sumaryczny błąd losowy mierzonego odcinka czasu.

EN

The metastability effect is discussed in this paper as two separated effects. The first concerns the increase of the propagation time and the second concerns the random character of output states. The generalized model of the flip-flop was introduced. The measurements method of the setup time fluctuation is presented. The results of measurements for the flip-flops implemented in the FPGA structure are also discussed.

2

Influence of the clock signal phase fluctuation on the precision of time-interval measurement

Zieliński M., Kowalski M., Grzelak S., Chaberski D., Frankowski R.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2006

|

Vol. 47, nr 1

50-52

EN

Random clock signal phase fluctuations and their influence on the precision of time-interval measurement are described in this paper. The construction of time-interval measurement system [TIMS] and its application for oscillator phase fluctuations measurement are discussed. The new metrological parameters useful for estimations of the precision of TIMS as function of the measuring range are proposed.

PL

W artykule opisano w jaki sposób przypadkowe fluktuacje sygnału zegarowego wpływają na dokładność pomiaru odcinka czasowego. Przedstawiono budowę systemu pomiaru odcinka czasowego oraz pokazano sposób jego wykorzystania do oceny fluktuacji fazowych generatora zegarowego. Zaproponowano nowe parametry dla określenia stopnia oddziaływania fluktuacji fazowych na system pomiaru odcinka czasowego i ich wpływ na dokładność pomiaru w zależności od wielkości zakresu pomiarowego.

3

High resolution time-interval measuring module with Vernier scale

Zieliński M., Grzelak S., Chaberski D., Frankowski R., Kowalski M.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2005

|

Vol. 46, nr 2-3

68-70

EN

A method for the improving resolution of a time-interval measuring system implemented in a single FPGA structure is discussed. In this method the period of the standard oscillator is adjusted to the single tap delay. In this way the Vernier scale can be obtained and the system resolution can be significantly increased. A new time-interval measuring module with a Vernier scal (TIMMV) of resolution equal to 318.8 ps.

PL

Opisano metodę poprawy rozdzielczości systemu pomiaru odcinka czasowego implementowanego w pojedynczej strukturze FPGA. Metoda polega na dopasowaniu okresu sygnału wzorcowego do opóźnienia segmentu linii opóźniającej. W ten sposób uzyskuje się skalę pomocniczą (noniuszową) i rozdzielczość systemu może być zwielokrotniona. Zaprezentowano nowy moduł pomiaru odcinka czasowego z noniuszową skalą (TIMMV) o rozdzielczości równej 318,8 ps.