Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Automatyka / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie

1 2007

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: pomiar długoterminowy

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Metodyka porównania tomografów pojemnościowych

Grudzień K., Chaniecki Z., Romanowski A., Banasiak R., Wajman R., Yang W., Sankowski D.

Automatyka / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie

2007

T. 11, z. 3

281-294

Niniejsza praca zawiera próbę wypracowania metodyki porównywania właściwości pomiarowych systemów tomograficznych. W tym celu przeprowadzono eksperymenty testujące tomograf pod kątem jego różnych możliwości pomiarowych. Zastosowano ten sam czujnik pomiarowy do badań dwóch różnych rozwiązań konstrukcyjnych tomografu pojemnościowego. Zarówno w jednym, jak i w drugim z systemów istnieje możliwość pewnych zmian nastaw układów elektronicznych, które pozwalają na dostosowywanie się do odpowiednich pomiarów. Zmiana tych ustawień konfiguracyjnych w trakcie testów dokonywana była tylko w minimalnym stopniu, co w bardziej szczegółowych badaniach należałoby wykorzystać. Analiza uzyskanych wyników stanowi pierwszy etap prac w celu opracowania obiektywnych procedur porównawczych, umożliwiających wybór najbardziej odpowiedniego systemu tomograficznego względem jego przemysłowego zastosowania. Dodatkowo przedstawiona metodyka pozwoli na lepsze zrozumienie pomiędzy konstruktorami tomografu a badaczami procesów przemysłowych przy wykorzystaniu tego narzędzia.

The paper presents an approach to establish a methodology for comparison of tomography systems measurement properties. Conducted experiments tested tomography systems under a number of different, proposed criteria concerning measurement capabilities. There was the same sensor used for both tomography types employed. Both systems allow a number of configuration modifications, which was deployed only in a very short range, but this property can be exploited deeper in further research. The analysis of obtained results is the first stage of the work on the objectives procedures of the tomography systems comparison. It can be very helpful in the choice of the adequate tomography system relatively to its industrial applications. Additionally the presented methodology allows better understanding between hardware constructors and process investigators.