Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  pomiar amplitudowo-częstotliwościowy
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
The paper describes a miniaturized device that records changes in voltage amplitude and signal frequency. After applying the measuring probe to the surface of the tested material, the voltage and frequency amplitude changes. In a place free from defects and nonconformities values of voltage amplitude and frequency are taken as reference values, with which the results obtained during further tests are compared. A clear change in the value of any of the parameters indicates a change in the condition of the tested material. Registration of two parameters with different sensitivity for selected factors allows for a more accurate analysis of the condition of the tested material. The miniaturized device can works in manual measurement mode or in automatic mode, it can be used in defectoscopy, structure and thickness measurements.
PL
W pracy przedstawiono urządzenie pracujące w oparciu o generator ze swobodnie oscylującym obwodem rezonansowym. Urządzenie rejestruje zmiany amplitudy napięcia oraz częstotliwości sygnału prądowirowego. Jednoczesna rejestracja dwóch parametrów o różnej czułości na wybrane czynniki pozwala na dokładniejszą analizę stanu badanego materiału. Urządzenie może pracować w trybie ręcznego pomiaru lub w trybie automatycznym. Charakteryzuje się małym rozmiarem i wagą. Może być wykorzystywane w defektoskopii, strukturoskopii oraz pomiarach grubości.
EN
The paper presents a device working on the basis of a generator with a freely oscillating resonant circuit. The device records changes in voltage amplitude and frequency of the eddy current signal. Simultaneous registration of two parameters with different sensitivity for selected factors allows for a more accurate analysis of the condition of the tested material. The device can works in manual measurement mode or in automatic mode. It is characterized by small size and weight. It can be used in defectoscopy, structure and thickness measurements.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.