Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: pomiar aktywny

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Future trends of surface topography analysis

Wieczorowski M.

Metrology and Measurement Systems

2002

Vol. 9, nr 3

221-233

Each surface existing in nature is rough. This fact is for more than 70 years now a motor for surface analysis in mechanical engineering. In recent years a topography analysis was created that is based upon a measurement of asperities in three dimensions. Its applications still more often goes beyond traditional engineering, comprising machining and tribology, non-standard machining, plastic deformations as well as biomedicine, oceanography, cartography and electronics. In the paper various possibilities of surface characterization in different regions of life and science are shown. Some interesting devices for surface topography measurements were also presented. They are, for example, research to develop a capacitance sensor for surface roughness analysis in active control, particularly regarding rotary pieces is briefly described.

Każda powierzchnia w naturze jest chropowata. To stwierdzenie jest od ponad 70 lat punktem wyjścia do analizy powierzchni również w budowie maszyn. W ostatnich latach stworzona została analiza topografii (morfologii) powierzchni bazująca na pomiarze nierówności w trzech wymiarach. Jej zastosowanie coraz bardziej wychodzi poza standardowe aplikacje inżynierskie, obejmując już nie tylko typowe i nietypowe rodzaje obróbki, ale również odkształcenia plastyczne, biomedycynę, chemię, elektronikę, a nawet sport czy geografię. W artykule przedstawiono różne mzliwości charakteryzowania powierzchni dla różnych dziedzin życia i nauki. Pokazano również kilka interesujących przyrządów do analizy topografii powierzchni. Należą do nich, na przyklad mikroskop pracujący w oparciu o efekt tunelowy oraz mikroskop interferencyjny. Krótko opisano równiez prace zmierzajace do skonstruowania przyrządu do aktywnego pomiaru chropowatości, jak również MOTIF 3D oraz nową klasyfikację powierzchni.