Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Determination of the parameters of lamellar structure of semicrystalline polymers using a computer program SAXSDAT

Rabiej S., Rabiej M.

Polimery

|

2011

|

T. 56, nr 9

662-670

EN

A computer program SAXDAT for the analysis of small angle X-ray scattering (SAXS) curves of semicrystalline polymers is described. The program is based on a lamellar stack model of polymer structure. In the program, the parameters of stacks can be determined from one-dimensional correlation function calculated as a Fourier transform of intensity distribution or by model calculations which consist in fitting of a theoretical intensity distribution function to the experimental curve. The program can be applied to single curves as well as to big sets of curves obtained from time resolved experiments. Both point and slit collimation recording systems are acceptable.

PL

W pracy opisano możliwości opracowanego przez autorów programu komputerowego SAXSDAT przeznaczonego do analizy krzywych małokątowego rozpraszania promieniowania rentgenowskiego (SAXS) otrzymanych podczas badań polimerów semikrystalicznych. Algorytmy programu wykorzystują zależności znane z teorii rozpraszania promieniowania rentgenowskiego przez polimery semikrystaliczne, opracowane przy założeniu lamelarnego modelu ich struktury wewnętrznej. Program może być stosowany do analizy pojedynczych krzywych SAXS otrzymanych w eksperymentach statycznych, przy użyciu klasycznych kamer małokątowych typu kamera Kratky'ego, jak też do wieloelementowych zbiorów krzywych otrzymywanych w eksperymentach dynamicznych prowadzonych z zastosowaniem promieniowania synchrotronowego. Jego istotną zaletą jest to, że może być używany do opracowania krzywych zarejestrowanych przy użyciu zarówno punktowego jak i szczelinowego systemu kolimacji wiązki pierwotnej. Jednym z głównych zadań programu jest wyznaczenie tzw. jednowymiarowej funkcji korelacyjnej charakteryzującej strukturę warstwowych domen wypełniających objętość polimeru. Na podstawie przebiegu tej funkcji, obliczane są wszystkie parametry charakteryzujące strukturę tych domen: grubość lamel krystalicznych i warstw amorficznych, wielki okres, objętościowy stopień krystaliczności domen, grubość obszaru przejściowego na granicy faz, inwariant idealny i rzeczywisty.

2

Zastosowanie optymalizacji wielokryterialnej do wyznaczania stopnia krystaliczności polimerów semikrystalicznych

Rabiej M.

Polimery

|

2003

|

T. 48, nr 4

288-295

PL

Opracowano sposób modyfikacji metody Hindele-ha-Johnsona wyznaczania stopnia krystaliczności (SK) polimerów umożliwiający znaczną poprawę jej jednoznaczności. W procedurze rozkładu rentgenowskich krzywych dyfrakcyjnych na piki krystaliczne i składową amorficzną wprowadzono, obok kryterium najlepszego dopasowania krzywej teoretycznej i doświadczalnej, dodatkowe kryterium związane z profilem składowej amorficznej. Oprócz dwóch klasycznych metod optymalizacji Powella i Rosenbrocka zastosowano nowe wielokryterialne procedury optymalizacyjne (system hybrydowy) wykorzystujące algorytmy genetyczne, które są mniej wrażliwe na wybór warunków początkowych. Pozwoliło to na uzyskanie znacznie bardziej jednoznacznych i wiarygodnych rozwiązań. Porównano wyniki rozkładu krzywych dyfrakcyjnych próbek poli(tereftalanu etylenu) i polipropylenu za pomocą tych trzech wspomnianych metod, a także przedstawiono analizę statystyczną dotyczącą uzyskanych liczbowych wartości SK. Rozrzut tych wartości w przypadku optymalizacji wielokryterialnej jest znacznie węższy niż w klasycznych metodach optymalizacji.

EN

On the basis of a literature review, an additional criterion of resolution of diffraction curves into crystalline peaks and amorphous component, in generally used Hindeleh-Johnson method of the polymers crystallinity degree (SK) determination, has been proposed. Besides two classical optimization methods by Powell and Rosenbrock, new multicriterial optimization procedures (hybrid system) have been used. They were applying the genetic algorithms which are less sensitive to initial conditions choice. All that allowed to obtain much more credible solutions. The results of resolution of diffraction curves of poly(ethylene terephthalate) and polypropylene samples, using three above mentioned methods, have been compared (Tables 1 and 2, Figs 3-6). As well statistical analysis concerning numerical SK values obtained was presented (Table 3). Scatter of these values in the case of multi- criterial optimization appeared to be much narrower than when classical optimization methods were used.

3

Wyznaczanie stopnia krystaliczności polimerów semikrystalicznych za pomocą programu komputerowego "OptiFit"

Rabiej M.

Polimery

|

2002

|

T. 47, nr 6

423-427

PL

Przedstawiono opis programu komputerowego "OptiFit" umożliwiającego rozkład rentgenowskich dyfraktogramów polimerów semikrystalicznych na składowe pochodzące od fazy krystalicznej i amorficznej w celu obliczenia stopnia krys-taliczności (SK) takich polimerów. Program działa na podstawie procedury Hindeleha i Johnsona (również szczegółowo omawianej w artykule) i pozwala na wybór jednej z kilku metod optymalizacyjnych. Zastosowano go w badaniach własnych do obliczenia wartości SK próbek PET, PP i PA6 na podstawie rejestracji ich dyfraktogramów.

EN

A description of the ''OptiFit" software used for resolution of X-ray diffraction patterns of semicrystalline polymers into components coming from crystalline and amorphous phases to calculate their degree of crystallinity (SK) has been given. The software implements the Hindeleh and Johnson procedure (also described in detail) and allows selection of one of four optimization methods. The software was applied to determine SK values of PET, PP and PA6 base don registration of their diffractograms.