Ograniczanie wyników
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  point spectroscopy
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
Niniejsza praca zawiera ocenę możliwości wykorzystania mikroskopu AFM diCaliber do badania właściwości powierzchni. Badania topografii powierzchni zostały przeprowadzone w kontaktowym trybie pracy mikroskopu, ponadto dokonano pomiarów w trybie point spektroskopy, by na podstawie uzyskanych krzywych siły od odległości ostrze-próbka uzyskać jak najwięcej informacji o badanej powierzchni. Przedstawiono przykład pomiaru i analizy powierzchni metodą point spektroskopy.
EN
This article contains an engineering information about evaluating the possibility of using atomic force microscopy (AFM) to study of the surface properties. The study of surface topography were performed in contact mode operation of AFM microscopy. This work describes an example of the measurement and analysis of surface point spectroscopy method.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.