Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: podłoża krzemowe

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Wydrążone nanorurki kwarcowe zawierające nanopiłki palladu

Czerwosz E., Kowalska E., Radomska J., Wronka H., Kowalski W., Witkowski B.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2013

Vol. 54, nr 4

13-15

Wydrążone nanorurki kwarcowe SiO2 z powodu optycznych właściwości mogą znaleźć zastosowanie, jako jednowymiarowe obiekty w urządzeniach optoelektronicznych, jako fotokatalizatory, nanosensory optyczne, chemiczne lub biologiczne oraz w innych urządzeniach nanoelektronicznych np. jako nośniki informacji. W pracy przedstawiamy sposób wytwarzania wydrążonych nanorurek kwarcowych, zawierających nanopiłki Pd. Metoda syntezy nanorurek kwarcowych polega na wygrzaniu w powietrzu w temperaturze 900°C nanodrutów krzemku palladu Pd2Si otrzymanych w procesie dwustopniowym PVD/CVD. Otrzymane nanorurki SiO2 są wydrążone, w wydrążeniu znajdują się nanozirna Pd o sferycznym kształcie nazwane przez nas nanopiłkami. Nanorurki mają średnicę zewnętrzną kilkudziesięciu nanometrów a długość od 1 do kilkudziesięciu μm.

Hollow silica nanotubes SiO2 due to the optical properties can be used as one-dimensional objectives in optoelectronic devices, as phootocatalysts, optical, chemical or biological sensors and in the other electronics devices as i.e. a data carrier. We present the method of obtaining hollow silica nanotubes containing palladium nanoballs. The method of preparations of these nanotubes consists on the annealing at the temperature of 900°C in the air atmosphere of Pd2Si nanorods. Such nanorods were firstly prepared by two steps PVD/CVD method. These hollow nanotubes contain inside Pd nanoballs. The eternal diameter of nanotubes is about few tens nm and their length changes from 1 to few tens of μm.

Naprężenia dwuosiowe w warstwach diamentowych nanoszonych na podłoża krzemowe

Staryga E., Klimek L., Fabisiak K., Kozanecki M., Jarzyńska D.

Inżynieria Materiałowa

2006

Vol. 27, nr 5

1236-1239

W pracy przedstawione są rezultaty badań naprężeń w polikrystalicznych warstwach diamentowych naniesionych przy użyciu metody HFCVD na podłoża krzemowe. Charakterystykę warstw przeprowadzono przy zastosowaniu takich technik jak: spektroskopia Ramana, skaningowa mikroskopia elektronowa i dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych. Mikrofotografie powierzchni warstw diamentowych wskazują na polikrystaliczną strukturę, składającą się z ziarn diamentu o rozmiarach rzędu 1 um. Badania umożliwiły identyfikację składu fazowego badanego materiału wskazując na znaczny udział fazy diamentowej w ziarnach polikrystalicznej struktury. Analiza rezultatów wskazuje na brak obecności w badanych warstwach diamentowych takich faz krystalicznych jak lonsdaleit i grafit. W przypadku cienkich warstw diamentowych widoczne są obszary podłoża krzemowego nie pokryte warstwą diamentu a prawdopodobnie pokryte amorficzną warstwą węglową lub warstwą węglika krzemu.

In the paper the results of biaxial stress investigations in polycrystalline diamond films deposited on silicon substrates by HF CVD are presented. The diamond films characteristics were carried out using Raman spectroscopy, SEM and EBSD. SEM images of diamond films surface indicate on the polycrystalline structure with diamond grains about 1 um. The researches enabled the identifications of diamond films phase composition indicating on the considerable concentration of diamond phase in the grains of polycrystalline structure. There is no found the crystalline phase as lonsdaleit and graphite in tested diamond films. In the case of very thin films we can shown the places not covered polycrystalline diamond layer, the silicon substrate is covers by amorphous carbon film or SiC film.