Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2011

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: pobudzenie testujące

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

The use of specialized multi-band stimuli for analog circuits testing

Golonek T., Jantos P., Grzechca D.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2011

Vol. 52, nr 12

47-49

This paper presents the method of an analog functional testing which applies a non-periodic responses analyzing during the testing stage. The difference of energy levels for responses obtained to a pair of optimized stimuli was engaged to a circuit state determination. The proposed testing excitations have multi-band spectra of amplitude densities and they are specialized for investigation of assumed specifications. The amplitude densities of stimuli are optimized by means of evolutionary computations. Each population of evolutionary system consists of real numbered vectors which contain approximation coefficients for spectra of multi-band stimuli candidates.

W artykule opisano metodę funkcjonalnego testowania elektronicznych układów analogowych wykorzystującą analizę aperiodycznych odpowiedzi układu na wielopasmowe pobudzenia specjalizowane. Klasyfikacja poziomu wybranych specyfikacji obwodu jest dokonywana na podstawie oceny wartości różnicy energii otrzymanych dla pary zoptymalizowanych pobudzeń testujących. W celu osiągnięcia wysokiej skuteczności izolacji stanów obwodu testowanego, funkcje gęstości widmowych pobudzeń specjalizowanych są optymalizowane na etapie przed testowym w toku ewolucji różnicowej. Populacja osobników systemu ewolucyjnego zawiera zestawy rzeczywistych współczynników aproksymujących funkcje kodujące potencjalne spektra częstotliwościowe pobudzeń.