PL
 |
EN
Ograniczanie wyników
Czasopisma help
  1. 1 Przegląd Elektrotechniczny
Autorzy help
  1. 1 Pietrzykowski J.
Lata help
  1. 1 2007
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  połysk zwierciadlany
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Wzorce i warunki geometryczne stosowane w pomiarach połysku zwierciadlanego
Pietrzykowski J.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2007
|
R. 83, nr 5
73-75
PL
Przedstawiono zależności matematyczne wiążące współczynnik odbicia kierunkowego z połyskiem zwierciadlanym. Opisano wzorce i geometrie pomiaru stosowane w pomiarach połysku zwierciadlanego oraz zasadę działania połyskomierza.
EN
Mathematical relationships between specular reflectance and specular gloss are presented. Standards and measurement geometry conditions used into specular gloss measurements and also principle of operation of glossmeter are described.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.