Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 2009

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: plate patterns

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Metoda oceny dokładności wielkogabarytowych współrzędnościowych maszyn pomiarowych przy zastosowaniu wzorców płytowych

Sładek J., Krawczyk M., Muzyka-Żmudzki M., Gąska A., Gacek K., Kmita A.

Inżynieria Maszyn

2009

R. 14, z. 2

60-73

W pracy omówiono metodę oceny dokładności wielkogabarytowych współrzędnościowych maszyn pomiarowych (WgWMP), podstawą której jest identyfikacja dokładności w rozłożonych równomiernie punktach referencyjnych znajdujących się wewnątrz przestrzeni pomiarowej sprawdzanej maszyny pomiarowej. Posłużono się przy tym metodą macierzową (MM). Dotychczas MM, ze względu na ograniczony rozmiar stosowanych wzorców płytowych dochodzący do 1 m, pozwalała na ocenę dokładności WMP tylko o średnich gabarytach 1-2 m. Celem niniejszego opracowania jest zaproponowanie MM do oceny dokładności WgWMP (duże zakresy pomiarowe ponad 3m) i stosownej metody jej wykorzystania. Prezentowana metoda opiera się o wykorzystanie małych, w porównaniu z badaną przestrzenią, wzorców płytowych oraz interferometru laserowego z zastosowaniem małych wzorców do powiązania poszczególnych położeń. Ponadto przedstawiono weryfikację metody dla stanowisk modelowych i dla wybranej WgWMP.

The article presents the accuracy assessment of large coordinate measuring machines (LCMM) based on matrix method (MM). The base of this method is identification of accuracy in uniformly settled reference points being inside the measuring space. So far, for the sake of limited size of applied plate artifacts up to 1 m, MM was able to assess the accuracy of only medium-sized CMM 1-2[m]. The aim of this work is application of MM to accuracy assessment of LCMM (over 3 m) and elaboration of appropriate method of its application. Presented method is based on application of small (in comparison with research space) plate artifacts and laser interferometer to connect the particular positions of small artifacts. Besides the verification of the method for model stands and chosen CMM was presented and the new direction of development of the MM method by using laser tracers was also presented.