Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2008

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: physical defects

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Charakteryzacja komórek standardowych CMOS dla generacji wektorów testowych

Pleskacz W. A., Wielgus A., Kasprowicz D., Borejko T., Kuźmicz W.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2008

Vol. 49, nr 9

102-111

W artykule przedstawiono metodę generacji testów wykrywających uszkodzenia układów cyfrowych CMOS spowodowane zwarciami ścieżek. Zadanie to wymaga analizy topografii układu przy znajomości statystyki wielkości defektów powodujących zwarcia. W rezultacie każdemu wektorowi wejściowemu zostaje przypisane prawdopodobieństwo wykrycia przez niego uszkodzenia układu. Zaprezentowano efekty charakteryzacji bibliotek komórek standardowych (kombinacyjnych i sekwencyjnych) AMS CMOS 0,8 i 0,35 μm do testowania napięciowego i prądowego (/DDQ). Wyniki charakteryzacji pojedynczych komórek mogą być następnie wykorzystane przez hierarchiczne algorytmy do generacji testów dla układu zsyntezowanego z użyciem tych komórek.

The paper presents a method of generating test patterns detecting bridging faults in CMOS digital circuits caused by spot defects. The method makes use of the circuit's physical layout as well as spot-defect size distribution. As a result, each input pattern is assigned a probability of detecting a fault. Results of characterization of two standard-cell libraries AMS CMOS 0.8 and 0.35 μm are presented. All the cells, combinational and sequential, have been characterized both for voltage-based and for /DDQ testing. The results may subsequently be used by hierarchical algorithms for test generation of complex circuits synthesized with those cells.