Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 5

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  photon counting
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
This work shows a time-domain method for the discrimination and digitization of parameters of voltage pulses coming from optical detectors, taking into account the presence of electronic noise and afterpulsing. Our scheme is based on an FPGA-based time-to-digital converter as well as an adjustable-threshold comparator complemented with commercial elements. Here, the design, implementation and optimization of a multiphase TDC using delay lines shorter than a single clock period is also described. The performance of this signal processing system is discussed through the results from the statistical code density test, statistical distributions of measurements and information gathered from an optical detector. Unlike dual voltage threshold discriminators or constant-fraction discriminators, the proposed method uses amplitude and time information to define an adjustable discrimination window that enables the acquisition of spectra.
EN
This paper presents the method for the compensation of the temperature fluctuations in the measurement system based on the Silicon Photomultipliers (SiPM). Temperature has very strong influence on the gain of the detectors. Because single photons are detected and the system is very sensitive, its parameters have to be steady during the measurements. Temperature is being stabilized by changeable bias voltage of the detector. This paper describes how the algorithm of compensation has been determined during series of measurements and presents first results of temperature compensation.
PL
Artykuł opisuje metodę kompensacji zmian temperatury w systemach pomiarowych zawierających krzemowe fotopowielacze. Temperatura ma duży wpływ na wzmocnienie krzemowego fotopowielacza. Ponieważ urządzenie to jest bardzo czułe i potrafi mierzyć pojedyncze fotony, jego parametry muszą być kontrolowane podczas pomiaru. Temperatura jest stabilizowana przez zmiany napięcia polaryzacji. Artykuł prezentuje opis opracowania metody kompensacji na podstawie pomiarów oraz pierwsze wyniki kompensacji temperatury.
EN
This paper presents data acquisition system for Silicon Photomultiplier (SiPM), with four channels front-end ASIC implemented in 0.35 µm CMOS AMS technology. The signal from SiPM is shaped in front-end ASIC, converted to a digital value and processed in FPGA. The paper discusses principles of work, results of device measurements and data analysis.
PL
Artykuł ten prezentuje system akwizycji danych dla krzemowych fotopowielaczy (SiPM), który wykorzystuje czterokanałowy układ scalony ASIC zaimplementowany w technologii CMOS AMS 0,35 µm. Sygnał pochodzący z SiPM jest kształtowany w układzie ASIC, następnie konwertowany na postać cyfrową i poddawany dalszej obróbce w układzie FPGA. Artykuł omawia zasadę działania systemu, wyniki przeprowadzonych badań oraz analizę danych.
EN
Silicon Photomultiplier (SiPM) detectors are of great interest mostly because they can operate with light levels of few photons at room temperature and have fast response with typical rise time of 2-5ns. The paper presents an integrated circuit of front-end electronics designed in CMOS technology, dedicated for Silicon Photomultiplier (SiPM) detectors. The circuits was produced in the AMS 0,35�Ým technology and preliminary test results show its high performance.
PL
Krzemowe fotodetektory cieszą sie dużym zainteresowaniem e względu na możliwość rejestracji światła w temperaturze pokojowej na poziomie pojedynczych fotonów. W artykule przestawiono układ scalony elektroniki odczytowej do krzemowych fotopowielaczy zrealizowany w technologii CMO (AMS 0,35 .m) oraz wstępne wyniki testów potwierdzające jego funkcjonalność.
EN
Recently practical X-ray measurement systems are demanded energy distinction function. Photon-counting CdTe semiconductor detectors have a high energy resolution in a low count rate condition at room temperature. However, the energy resolution is decreased by pile-up phenomenon in a high count rate condition. In conventional signal processing, processing time estimated X-ray photon energy from the pulse waveform is about tens of microseconds. This time is depended on the pulse decay time. This paper purposes to maintain the high energy resolution by changing the signal-processing algorithm, which derived the pulse rise height of the output waveform from the CdTe detector in a high count rate condition. As a result, the pulse rise time required to estimate the pulse rise height was short about 100 ns at incident X-ray energy 60 keV. As the result of energy spectrum by using this data, the FWHM of about 11keV (at 60 keV) when the count rate of 500 kcps. This result shows the possibility that the photon counting sensor has application for the high count rate imaging without decrease of the high energy resolution.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.