Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  phase compound
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
Pomiar mikronaprężeń własnych metodami dyfrakcyjnymi opiera się na obliczaniu rzeczywistych odkształceń sprężystych sieci krystalicznej poszczególnych faz tworzywa krystalicznego. Metody te są jedynymi, które umżliwiają pomiary naprężeń w każdym składniku fazowym materiału. Można nimi mierzyć wszystkie składowe tensora (naprężeń własnych (NW) w dowolnie zorientowanych współrzędnych umiejscowionych na powierzchni przedmiotu. Metody dyfrakcyjne są nieniszczące, a nawet można je określić jako metody bezkontaktowe. Klasyczną metodykę dyfrakcyjną sin kwadrat Psi zastosowano do pomiaru makroskopowych NW w wybranych miejscach spoiny wykonanej na grubych blachach ze stali dwufazowej. Taka wielościegowa spoina czołowa zawiera zróżnicowane NW, które mieszczą sie w szerokim zakresie naprężeń ściskających i rozciągających.
EN
Residual macrostress measurement by X-ray diffraction methods consist in calculating of elastic strain based on measurement of interplanar dhkl distance for particular phases of solids. These methods enable to measure residual stresses (RS) in any phase compound. Whole components of RS tensor can be established by X-ray diffraction methods. They are non-destructive methods. Traditional square sin Psi X-ray diffraction method was used to establish two components of plane stress tensor in chosen points of weld. This kind of welds performs different level of RS and they are placed in tension and compression ranges.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.