Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: particular sampling

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Using a particular sampling method for impedance measurement

Lentka G.

Metrology and Measurement Systems

2014

Vol. 21, nr 3

497--508

The paper presents an impedance measurement method using a particular sampling method which is an alternative to DFT calculation. The method uses a sine excitation signal and sampling response signals proportional to current flowing through and voltage across the measured impedance. The object impedance is calculated without using Fourier transform. The method was first evaluated in MATLAB by means of simulation. The method was then practically verified in a constructed simple impedance measurement instrument based on a PSoC (Programmable System on Chip). The obtained calculation simplification recommends the method for implementation in simple portable impedance analyzers destined for operation in the field or embedding in sensors.

Implementacja uogólnionego algorytmu szczególnego próbkowania dla wyznaczania harmonicznej podstawowej w środowisku LabVIEW

Ziółko M.

Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej

2013

Nr 34

81--84

Praca dotyczy opisu oraz implementacji uogólnionego algorytmu szczególnego próbkowania dla wyznaczania amplitudy harmonicznej podstawowej w środowisku LabVIEW. Algorytm szczególnego próbkowania umożliwia wyodrębnienie informacji o wartości amplitudy harmonicznej podstawowej ze spróbkowanego, odkształconego sygnału przy zastosowaniu stosunkowo prostych środków technicznych. Aplikacja może mieć zastosowanie w urządzeniach pomiarowych wyposażonych w prosty mikrokontroler. Zaleta opracowanego oprogramowania jest jego elastyczność, polegającą na automatycznym doborze zestawu próbek niezbędnych do filtracji wyższych harmonicznych, spełniającym zadeklarowane przez użytkownika wymagania.

The paper presents an implementation of generalized Particular Sampling Algorithm for determination the fundamental harmonic in LabVIEW environment. This algorithm is used to extract information about fundamental harmonic from distorted sampling signal. Information about the fundamental harmonic of current or voltage is substantial in many types of measurements. For example, some parameters in the protective measures in the power systems, like loop impedance or ground impedance, are calculated using such information. These parameters are very important in evaluation of effectiveness of protection against electric shocks. Extracted information about the fundamental harmonic with the application of Particular Sampling Method is possible using simplified technical resources compared to FFT algorithm. The measurement device based on Particular Sampling Method can be equipped with a simple microcontroller. In the literature a concrete implementations of this method were used. The sampling program, which was created so far manually, has been determined by the set of eliminated harmonics. The main advantage of presented software developed in LabVIEW environment is its flexibility, i.e. the sampling program is created automatically. The results obtained from the use of this software are consistent with the results of previous studies.