W artykule przedstawiono koncepcję szacowania ryzyka uszkodzenia urządzenia na podstawie narastających wartości odchyłek parametrów roboczych od wartości przyjętych za nominalne. Przyjęto, że odchyłki parametrów rosną w wyniku działania procesów destrukcyjnych, będących obciążeniem urządzenia w postaci użycia, starzenia, zmęczenia itp. W artykule przedstawiono metodę tej oceny na podstawie jednego parametru roboczego, na przykład dominującego dla danego urządzenia.
EN
The paper contains the idea of device damage risk estimation based on growing parameters deviation in comparison with face value. The parameters deviation is growing as a result of staling, wearing and fatiguing destruction process. The risk of damaging device describes the deviation density function and probability of rising damages in period of time (0, t).
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.