Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: parametr pomiarowy

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Wybrane cechy metrologiczne systemów WAMS

Talaga M., Halinka A.

Wiadomości Elektrotechniczne

2018

R. 86, nr 1

6--9

Przedstawiono wybrane parametry pomiarowe wykorzystywane w systemie WAMS.

Selected measurement parameters used in the WAMS are presented.

Konstrukcja mikroskopu sił atomowych z układem obrazowania wykorzystującym składowe harmoniczne

Pawłowski S., Majcher A., Zbrowski A., Mrozek M.

Zeszyty Naukowe. Mechanika / Politechnika Opolska

2014

z. 103

145--148

The paper presents the design of the atomic force microscope. The basic criterion for its development was the ease of use associated with high measurement parameters. The used modular design of mechanical, control and software elements allows to make changes and in¬troduce modifications to extend the range of applications of the device. One such modification involving the imaging of objects using the measurement of the amplitude and the phase of the signal from the probe working in an intermittent contact mode was described.

W artykule przedstawiono konstrukcję zbudowanego mikroskopu sił atomowych. Podstawowym kryterium przy jej opracowaniu była prostota obsługi przy zachowaniu wysokich parametrów pomiarowych. Zastosowano modułowość rozwiązań mechanicznych, sterowania i oprogramowania, co umożliwia wprowadzanie zmian i modyfikacji rozszerzających zakres zastosowań urządzenia. Opisano jedną z takich modyfikacji polegającą na obrazowaniu badanych obiektów z wykorzystaniem pomiaru amplitudy i fazy składowych harmonicznych sygnału pochodzącego z sondy pracującej w trybie kontaktu przerywanego.