Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Advances in Manufacturing Science and Technology

1 2005

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: parameters of surface valuation

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Surface geometrical property specification system basing on simple profilographometric measurements.

Cincio R., Kacalak W., Makuch S.

Advances in Manufacturing Science and Technology

2005

Vol. 29, nr 1

31-41

In engineering applications, stereometric characteristics of rough surfaces are described using parameters of single profile, for example assuming that average height of profile vertexes is the same as everage height of profile vertexes of surface. These characteristics are often different, what causes non adequacy of such a form of surface description. Probability of fact, that vertex of surface is also the vertex of profile is close to zero. In spite of that, characteristic of single profile of surface delivers informations allowing to conclude about characteristics of whole surface. Using of modern methods of data anlysis we can prognose characteristics of surface topography on base of statistical data characterizing surface profiles. It demands to work out a interfence system equipped with appropriate data resource. In paper there is presented a system using artificial intelligence methods for concluding about surface topography on base of the single profile. In the system multiply net was applied. Input parameters of the net are parameters of single roughness profile, on output expected values are average stereometric parameters of whole surface.

W zastosowaniach inżynierskich stereometrycznym cechom powierzchni chropowatej przypisuje się parametry jej pojedynczego zarysu, np. przyjmując, że średnia wysokość wierzchołków zarysu jest równa średniej wyokości wierzchołków powierzchni. Często cechy te znacząco się różnią, co powoduje nieadekwatność tej formy opisu powierzchni. Prawdopodobieństwo tego, że wierzchołek powierzchni jest jednocześnie wierzchołkiem zarysu jest bliskie zeru. Mimo to charakterystyka pojedynczego zarysu powierzchni niesie ze sobą informacje pozwalające na wyciągnięcie wniosków dotyczących charakterystyki całej powierzchni. Wykorzystując nowoczesne metody analizy danych można prognozować cechy topografii powierzchni na podstawie danych statystycznych charakteryzujących zarysy powierzchni. Wymaga to jednak opracowania systemu wnioskowania wyposażonego w odpowiedni zasób wiedzy. W pracy jest przedstawiony system wykorzystujący metody sztucznej inteligencji do wnioskowania o topografii powierzchni na podstawie pojedynczego zarysu. W systemie tym zastosowano wielowarstwową sieć, na której wejście są podawane parametry pojedynczego zarysu chropowatości, a na jej wyjściu wartościami oczekiwanymi są średnie parametry stereometryczne całej powierzchni.