Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2010

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: półprzewodniki z szeroką przerwą zabronioną

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Wpływ wysokiej temperatury na przebieg charakterystyk widmowych detektorów

Ćwirko R., Ćwirko J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2010

Vol. 51, nr 10

70-73

Detektory UV, VIS i NIR są używane w pracach badawczych, przemyśle i aplikacjach wojskowych. Prezentowany w artykule system badawczy jest przeznaczony głównie do wysokotemperaturowych pomiarów charakterystyk widmowych detektorów w zakresach UV, VIS i NIR. System został opracowany w Wojskowej Akademii Technicznej. W artykule przedstawiono wyniki zależności charakterystyk widmowych od temperatury dla detektorów wykrywających zakres UV i wykonanych z Si i 4H-SiC.

UV, VIS i NIR detectors are used in scientific research and industrial and military applications. Measurement system used for spectral characteristic high-temperature measurements of UV, VIS and NIR is presented in the paper. The system was developed in the Military University of Technology (MUT). We present the results of a comprehensive study of the temperature dependences of the spectral characteristics for ultraviolet detectors based on Si and 4H-SiC structures. Measurement can be carried out in temperature range - from ambient temperature to 200°C.