Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Przemysł Chemiczny

1 2016

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: oznaczanie zawartości metali szlachetnych (PGM)

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Metodyka oznaczania zawartości metali szlachetnych w komponentach zużytego sprzętu elektrycznego i elektronicznego

Hala B., Turkowska M., Berezecka K., Strawa E.

Przemysł Chemiczny

2016

T. 95, nr 2

293--296

Opracowano metody oznaczania zawartości metali szlachetnych (PGM) w komponentach zużytego sprzętu elektrycznego i elektronicznego (WEEE). W tym celu wykorzystano modelowe roztwory o deklarowanej zawartości PGM (Ag, Au, Pd, Pt) oraz pierwiastków matrycowych elektrozłomu (Al, Cu, Fe, Zn). Wydzielanie analitów z matrycy WEEE przeprowadzano metodami współstrącenia na nośnikach (Ni, Te) oraz wymiany jonowej z wykorzystaniem silnie zasadowego anionitu. Uzyskano obiecujące wyniki badań oddzielenia PGM od pierwiastków matrycowych. Pozwolą one na dalsze doskonalenie efektywnej metodyki oznaczania śladowych zawartości PGM w matrycy WEEE, z wykorzystaniem próbek rzeczywistych.

Known test methods were used for detn. of Ag, Au, Pd, Pt in the title waste materials. Model solns. of the precious metals and waste matrix elements (Al, Cu, Fe, Zn) were used for confirmation of the method efficiency. The analytes were sepd. from the matrix model solns. by copptn. on Ni and Te substrates and ion exchange with strongly basic anion exchange resins. The pptn. with dimethylglyoxime was effective for sepn. of Pd only. The inductively coupled plasma optical emission spectroscopy was used as anal. tool.