Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2006

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: own inductance

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Metoda obliczania parametrów dekompozycyjnych rezystorów warstwowych

Abdenov A. Z., Sawicki A., Razinkin V. P., Rubanovich M. G., Khrustalev V. A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2006

Vol. 47, nr 6

28-31

Przedstawiono zależności wiążące parametry konstrukcyjne i elektryczne rezystora warstwowego, a zwłaszcza jego indukcyjności - własnej i wzajemnej. Udowodniono możliwość takiego przejścia granicznego, który sprowadza otrzymaną zależność do równania całkowego Volterry pierwszego rodzaju typu splotu.

In work the ratio connecting design data of the film resistor with decomposed inductive parameters and own inductance of the film resistor is received. The opportunity of limiting transition which reduces the received ratio to integrated equation Volterra of the first sort such as convolution is proved.