Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Logistyka

1 2015

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: overhead contact line diagnostics system

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

System pomiarowy PanDiag do badania współpracy ślizgacza pantografu z siecią jezdną

Mańka A., Hełka A., Sitarz M.

Logistyka

2015

nr 4

4731--4736, CD2

W artykule przedstawiono system do diagnostyki kolejowej sieci jezdnej. Opisano jego, podstawowe parametry oraz możliwości pomiarowe. Wskazano również na aktualne kierunki modyfikacji systemu dla zaspokojenia nowych wymagań stawianych dla systemu PanDiag w tym wynikających z potrzeby badań realizowanych dla pociągów szybkich. Przedstawiono również uwagi użytkowników systemu PanDiag, które stanowiły podstawę dalszej modyfikacji systemu diagnostycznego. W artykule przedstawiono możliwości pomiarowe aktualnie testowanego w warunkach laboratoryjnych systemu PanDiag2, którego celem jest spełnienie wymagań nie tylko dla diagnostyki sieci trakcyjnej kolei konwencjonalnej ale również dla pociągów kolei szybkich, dla których oprócz zakładanej dokładności pomiaru niezbędna jest bardzo wysoka częstotliwość próbkowania czujników i za tym idące ograniczenia starszych mikrokontrolerów, układów kondycjonujących sygnał pomiarowy i samych czujników.

This paper presents a system for the diagnosis of a railway catenary. Describes the basic parameters and measurement capabilities. Also points to the current improvements of the system to meet new requirements for the system PanDiag including those resulting from the need to research conducted for the high-speed trains. It also presents user feedback, which formed the basis for further modification of the diagnostic system. The paper presents the measurement capabilities of currently being tested in laboratory conditions of PanDiag2 system, which aims to meet the requirements not only for network diagnostics conventional rail traction but also for high-speed railways trains, which in addition to the assumed accuracy requirements is very high sampling frequency of sensors and for the reaching limitations of older microcontrollers, signal conditioning circuits and measurement sensors themselves.