Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: orientowana blacha elektrotechniczna

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

ModelIing the influence of anisotropy on magnetic properties in grain-oriented steels

Chwastek K., Najgebauer M., Szczygłowski J., Wilczyński W.

Przegląd Elektrotechniczny

2011

R. 87, nr 3

126-128

The paper presents an anisotropy model of magnetic properties based on the concept of coenergy. The proposed model is veriffied for chosen grades of grain-oriented electrical steel. It is shown, that it is possible to predict magnetization curves for arbitrary values of angle ∝ on the basis of easurements, made in two directions of sample.

W artykule przedstawiono model anizotropii właściwości magnetycznych oparty o koncepcję ko-energii. Zaproponowany model został zweryfikowany dla orientowanych blach elektrotechnicznych o wybranych grubościach. Wykazano możliwość uzyskania pętli histerezy dla dowolnego kąta a wycięcia próbki, w oparciu o pomiary wykonane wyłącznie w dwóch kierunkach.

Wpływ wykrawania i cięcia laserem na właściwości magnetyczne orientowanych krzemowych blach elektrotechnicznych.

Wilczyński W., Talik S., Szubzda B.

Prace Naukowe Instytutu Podstaw Elektrotechniki i Elektrotechnologii Politechniki Wrocławskiej. Konferencje

2006

Vol. 44, nr 18

398-401

By nadać odpowiedni kształt elementom obwodów magnetycznych maszyn elektrycznych należy blachę elektrotechniczną poddać wykrawaniu bądź wycinaniu laserem. Tego rodzaju operacje powodują znaczne pogorszenie właściwości magnetycznych używanych materiałów. W artykule zostanie przedstawiony wpływ wykrawania i cięcia laserem na właściwości magnetyczne orientowanych krzemowych stali.

Punching and laser cutting magnetic core elements of electric machine deteriorate magnetic properties. Influence of punching and laser cutting on magnetic properties of silicon oriented electrical steel is presented.