Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2008

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: optymalizacja globalna i lokalna

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Analiza możliwości wykorzystania metod optymalizacji lokalnej i globalnej w zadaniu charakteryzacji struktur MOS

Arabas J., Szostak S., Łukasiak L., Jakubowski A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2008

Vol. 49, nr 1

43-45

Przedstawiono wstępne wyniki wykorzystania algorytmu ewolucyjnego i sympleksu Neldera-Meada w zadaniu charakteryzacji struktur MOS. Zadanie to jest sformułowane jako problem minimalizacji błędu przybliżenia krzywych pomiarowych I-V krzywymi I-V uzyskanymi za pomocą modelu Pierreta-Shieldsa. Celem jest analiza możliwości uzyskania przybliżenia dobrej jakości, dlatego też zamiast krzywych eksperymentalnych użyto krzywych wygenerowanych za pomocą modelu, a samo zadanie sprowadzono do zadania odtworzenia założonych (lecz nie znanych metodzie optymalizacji) wartości parametrów. Artykuł prezentuje wyniki takiego odtworzenia wraz z krytycznym komentarzem.

In this paper we present first experimental results of applying the Evolutionary Algorithm and Nelder-Mead method to the MOSFET characterization task. The task is formulated as a problem of minimizing the error between the I-V curves obtained from the Pierret-Shields model and the actual measurements. This work is a preliminary report from the ongoing research, therefore we use the model-generated points instead of real measurements, and we attempt to reproduce the original parameter values by the aforementioned minimization. The paper presents results of such reproduction.