PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  optyka cienkowarstwowa
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Ellipsometry based spectroscopic complex for rapid assessment of the Bi2Te3-xSexthin films composition
Kovalev Vladimir, Uvaysov Saygid, Bogucki Marcin
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
|
2021
|
T. 11, nr 4
67--74
EN
A comparative analysis of the current state and development of spectral ellipsometry (SE) is carried out, the main limitations typical of popular configurations of measuring devices are determined. An original technical solution is proposed that allows one to create a two-source SE that implements the ellipsometry method with switching orthogonal polarization states. The measuring setup provides high precision of measurements of ellipsometric parameters Ψand Δin the spectral range of 270–2200 nm and the speed determined by the characteristics of pulsed sources with a simple ellipsometer design.As objects for experimental researches, confirming the efficiency and high precision qualities of the fabricated SE, we used a GaAs/ZnS-quarter-wave device for a CO2laser and SiO2on Si calibration plates. The optical properties of Bi2Te3-xSexfilms were investigated in the range of 270–1000 nm using a multi-angle SE. It was shown that the optical properties of Bi2Te3-xSexfilms monotonically change depending on the ratio of selenium and tellurium.
PL
W artykule najpierw dokonano analizy porównawczej obecnego stanu rozwoju elipsometriispektroskopowej oraz określono główne ograniczenia typowe dla popularnych konfiguracji urządzeń pomiarowych. Zaproponowano oryginalne rozwiązanie techniczne pozwalające na stworzenie dwuźródłowego elipsometu spektroskopowego z przełączaniem ortogonalnych stanów polaryzacji. Układ pomiarowy zapewnia wysoką precyzję pomiarów parametrów elipsometrycznych Ψ i Δ w zakresie spektralnym 270–2200 nm i prędkości wyznaczonej przez charakterystyki źródeł impulsowych przy prostej konstrukcji elipsometru. Jako obiekty do badań eksperymentalnych potwierdzających wydajność i wysoką precyzję proponowanego elipsometu spektroskopowego, wykorzystano ćwierćfalowy przyrząd GaAs/ZnS dla lasera CO2oraz płytki kalibracyjne SiO2na krzemie. Właściwości optyczne warstw Bi2Te3-xSexzbadano w zakresie 270–1000 nm przy użyciu wielokątowego elipsometu spektroskopowego. Wykazano, że właściwości optyczne cienkich warstw Bi2Te3-xSexzmieniają się monotonicznie w zależności od stosunku zawartości selenu i telluru.
2
Content available Badanie nagrzewania się filtrów chroniących przed szkodliwym promieniowaniem podczerwonym
Gralewicz G., Owczarek G., Kubrak J.
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
|
2015
|
nr 1
62--65
PL
W artykule przedstawiono metodykę oraz wyniki badań zmian temperatury powierzchni filtrów ochronnych zachodzących w wyniku ekspozycji na promieniowanie podczerwone. Przeanalizowano zmiany temperatury powierzchni następujących rodzajów filtrów: absorpcyjnych, metaliczno-odbiciowych, oraz opracowanych przez autorów filtrów interferencyjnych. Analiza przedstawionych wyników badań wykazała, że jest możliwe ograniczenie wzrostu temperatury powierzchni filtrów chroniących przed szkodliwym promieniowaniem podczerwonym metodami optyki cienkowarstwowej.
EN
This paper presents the methodology and results of changes of temperature on the surface of protective filters in place by exposure to infrared radiation. The changes of temperature on the surface of absorption filters, reflective metallic filters and metal – dielectric interference filters developed by the authors have been analyzed. As it follows from the analysis of the presented results, it is possible to reduce the temperature increase on the surface of filters protecting against hazardous IR radiation by thin film optics methods.
3
Content available Interferencyjne filtry blokujące promieniowanie podczerwone
Gralewicz G., Owczarek G., Kubrak J.
Prace Instytutu Elektrotechniki
|
2012
|
Z. 256
23-34
PL
W niniejszym artykule przedstawiono podstawowe informacje na temat możliwości blokady szkodliwego promieniowania podczerwonego na gorących stanowiskach pracy metodami optyki cienkowarstwowej. Obliczono i przeanalizowano konstrukcje cienkowarstwowe pod kątem efektywności blokowania szkodliwego promieniowania. Opracowano technologie wykonywania wybranych konstrukcji filtrów technikami parowania próżniowego. Ponadto porównano właściwości filtrów obecnie dostępnych z nowymi prezentowanymi rozwiązaniami.
EN
This article presents basic information on how to block harmful infrared radiation using optical filters with thin-film coating. Interference structures for efficient blocking of harmful radiation was calculated and analyzed. The construction of new interferencje optical filters against infrared radiation was compared with currently available filters.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.