Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: optyka cienkich warstw

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Topografia i grubość warstw pasywnych na utlenianym anodowo stopie Ti6Al4V

Szewczenko J., Jaglarz J., Basiaga M., Kurzyk J., Skoczek E., Paszenda Z.

Przegląd Elektrotechniczny

2012

R. 88, nr 12b

228-321

W pracy przedstawiono wyniki badań wpływu wstępnego przygotowania powierzchni na topografię i grubość warstw pasywnych wytworzonych na powierzchni stopu Ti6Al4V. Wstępne przygotowanie powierzchni obejmowało kombinację zabiegów obróbki mechanicznej oraz elektrochemicznej. Utlenianie anodowe przeprowadzono przy zróżnicowanych wartościach potencjału. Wykorzystując w badaniach: elipsometrię, BRDF, kulę całkującą oraz profilometr optyczny, wyznaczono dla badanych warstw pasywnych: grubość, chropowatość, długość autokorelacyjną.

The paper presents results of the influence of preliminary surface preparation on the topography and thickness of the passive layer formed on the surface of Ti6Al4V alloy. Pre-treatment of surface treatments include combination of mechanical and electrochemical processes. Anodic oxidation was carried out at various values of potential. Thickness, roughness and autocorrelation length of the analyzed layers were tested by means of the following methods: ellipsometry, BRDF, ball integrator and an optical profilometer.

Diffuse scattering in polyazomethine thin films

Jaglarz J., Cisowski J., Czternastek H., Odsterczyl W., Jurusik J., Domański M.

Polimery

2009

T. 54, nr 1

15-18

The results of optical studies of the diffuse reflectance and transmittance of polyazomethine (PPI) thin films prepared by the chemical vapor deposition (CVD) technique are reported. The obtained experimental data prove the presence of centers causing the Rayleigh-type scattering of light. These centers, with a spherical structure (spherolites), are formed in the process of crystallization during the growth of PPI films and they are responsible for the volume scattering of light.

Przedstawiono wyniki badań odbicia i transmisji optycznej cienkich warstw poliazometyny (PPI) utworzonych metodą CVD (osadzania chemicznego z fazy gazowej, Chemical Vapor Deposition) z p-fenylenodiaminy i aldehydu tereftalowego. Wyniki te (rys. 1-4) dowodzą istnienia centrów odpowiedzialnych za rozpraszanie światła typu Rayleigh'a. Centra rozpraszania mają strukturę sferyczną (sferolity) i tworzą się w procesie krystalizacji w toku narastania warstw PPI; są one odpowiedzialne za rozpraszanie objętościowe światła. Określona metodą profilometrii optycznej grubość badanych warstw (rys. 5) mieściła się w przedziale 0,15-1,2žm. Scharakteryzowano za pomocą mikroskopu sił atomowych (AFM) chropowatość PPI nie wywierała istotnego wpływu na badaną transmitancje i odbicie.