Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: optyczne próbkowanie sygnałów elektrycznych

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Szybkie elektrooptyczne układy próbkujące wykorzystujące ferroelektryczną ceramikę PLZT

Wierzba P.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2010

Vol. 51, nr 6

116-118

Optyczne próbkowanie sygnałów elektrycznych może w niedługiej przyszłości stać się cennym uzupełnieniem metod akwizycji wykorzystujących bardzo szybkie układy analogowe i przetworniki A/C. W referacie omówiono konstrukcje elektrooptycznych układów próbkujących wykorzystujących ceramikę PLZT. Zaprezentowano także zagadnienia związane z pomiarami istotnych parametrów cienkich warstw tej ceramiki - grubości warstwy, współczynnika załamania i współczynnika elektrooptycznego. Przedstawiono kierunki dalszych prac.

Optical sampling of electrical signals may soon become a useful signal acquisition technique, complementary to state-of-the-art signal acquisition methods employing very fast analog circuits and analog to-digital converters. In the paper, the design of electro-optical sampling devices using PLZT ceramics is discussed. Issues related to the measurement of key parameters of thin PLZT films are discussed. Techniques for measurement of thickness, refractive index and electro-optic coefficients of PLZT films are presented. Directions of ongoing research are also outlined.