Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: optyczna epektrometria emisyjna

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Ilościowa analiza profilowa powłok ze stopów cynku metodą optycznej spektrometrii emisyjnej ze wzbudzeniem jarzeniowym (GD OES)

Kubiczek M.

Prace Instytutu Metalurgii Żelaza

2004

T. 56, nr 4

37-39

Celem badań było opracowanie metody ilościowej analizy profilowej GD OES oznaczenia zawartości pierwiastków stopowych i zanieczyszczeń w metalicznych powłokach na bazie cynku. Opracowano procedurę badawczą obejmującą oznaczanie grubości powłok oraz zawartość sześciu pierwiastków metodą GD OES na spektrometrze Polyvac 2000 GDS.

The aim of the tests was to develop the GD OES quantitative depth profile analysis method for determination of the contents of alloy elements and impurities in metallic zinc-based coatings. A testing procedure that included determination of the coating thicknesses and the contents of six elements by GD OES method using Polyvac 2000 GDS spectrometer was developed.