W pracy przedstawiono kryteria i metodę analizy błędów systemów pomiarowych, stosowanych w parametrycznej identyfikacji obiektów. Podstawą metody są badania symulacyjne prowadzone na modelach tych systemów. Proponowana metoda umożliwia również parametryczną optymalizację systemów pomiarowych, rozumianą jako minimalizację wybranego kryterium jakości w wielowymiarowej przestrzeni technicznych parametrów optymalizowanego systemu.
EN
The criteria and errors analysis method of the measuring systems applied in the parametric identification are presented in the paper. The method bases on the simulation tests conducted on these system's models. The proposed method allows also the parametric optimization of the measuring system, mined as a chosen quality criterion minimization in multidimensional space of the technical parameters of optimized system.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.