Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2007

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: optimization of input stimuli

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Wykorzystanie metody symulowanego wyżarzania do doboru optymalnego pobuzenia testującego analogowe układy elektroniczne

Grzechca D., Golonek T., Rutkowski J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2007

Vol. 48, nr 11

121-124

Zaprezentowano heurystyczną metodę optymalizującą liczbę pobudzeń testujących analogowe układy elektroniczne. Algorytm symulowanego wyżarzana został użyty jako silnik poszukiwania pobudzenia wejściowego. Wysokiej jakości test powinien mieć minimalną liczbę częstotliwości pobudzeń testowych na wejściu przy wysokiej testowalności i diagnozowalności analogowych układów elektronicznych. Przedstawione rozwiązanie pozwala odseparować układy uszkodzone od nieuszkodzonych (test go/no-go) oraz. lokalizować uszkodzone elementy. Algorytm został zaimplementowany w układzie Virtex-4 ML 403, co pozwala zastosować wymienioną platformę jako urządzenie niezależne (standalone).

This paper presents heuristic optimization method to analog circuit fault test frequency selection. Simulated annealing as a search engine is applied to find stimuli excitations. The high quality test requires minimum number of stimuli frequencies, high testability and diagnosability. The algorithm produces excitations that separates faulty and healthy circuits (go/no go test) and locates a faulty element (diagnosability) in a cirucit under test. Proposed approach is verified by simulated annealing algorithm with weighted energy function. Moreover, all algorithms are implemented and tested on the Xilinx Virtex-4 ML403 PPC Platform as a standalone application.