Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: optimization of excitation

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Dobór pobudzenia testującego PWL za pomocą algorytmu SA z neuronową funkcją celu

Grzechca D.

Przegląd Elektrotechniczny

2012

R. 88, nr 11b

64-67

W artykule przedstawiono sposób doboru pobudzenia testującego dla analogowego układu elektronicznego z wykorzystaniem algorytmu symulowanego wyżarzania (SA) z funkcją celu opartą na samoorganizującej się sztucznej sieci neuronowej (SOM). Podstawowym celem metody jest wykrycie wszelkich pojedynczych uszkodzeń parametrycznych za pomocą sygnałów mierzonych w 3 węzłach dostępnych z zewnątrz układu. Optymalizacji podlega odcinkami liniowy kształt napięcia, który podawany jest na wejście układu filtra. W artykule przedstawiono ideę wykorzystania hybrydowej metody optymalizacyjnej, która przeszukuje przestrzeń rozwiązań za pomocą algorytmu SA, natomiast ocena rozwiązania dokonywana jest na podstawie analizy SOM. Zaprojektowano pobudzenie wejściowe dla filtru aktywnego Sellen-Key’a, a ponadto przeanalizowano skuteczność metody dla różnych modeli uszkodzeń parametrycznych. Wyniki symulacji wskazują na wysoką skuteczność proponowanej metody.

The paper presents a selection of the PWL test excitation for analog electronic circuit using the simulated annealing algorithm (SA) with the objective function based on self-organizing artificial neural network (SOM). The primary objective of the method is to detect any single parametric fault using signals measured at three outer accessible nodes of the system. Optimization is subjected to PWL input voltage which is fed to the input of the filter. The idea of a hybrid optimization method consists of SA algorithm (searches the space of solution) but the assessment is based on SOM analysis. It has been designed test stimuli for the filter Sellen-Key, and analyzed the effectiveness of this method for various parametric fault models. The simulation results indicate the high effectiveness of the proposed method.