Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

The spectrum length method in quantitative interpretation of selected optical spectra

Wawrzyk Martyna

Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska

|

2022

|

T. 12, nr 2

20-23

EN

Different algorithms are used for the quantitative interpretation of optical spectra. Regression methods e.g CLS (Classical Least Squares) or PLS (Partial Least Squares) are often used in typical problems of laboratory spectroscopy. The spectra analysis is generally a multi-step process, in which, depending on the spectra type, modification of individual regression methods or special dedicated methods are applied. For example, contour length method or spectra length algorithm are used in this purpose. The basic version of the algorithm is very simple in terms of mathematics. It has been proposed for the analysis of spectra in the OP-FTIR open path spectroscopy, where there are significant fluctuations in the spectrum baseline. The spectrum length is a parameter closely related to the content of the analyzed gas component. Independently of spectral length algorithm, a method has been developed in which difference length of two spectra (measured and reference) is used to compare the spectra. The minimum length of the spectral difference is an indicator of their best fitting. The article presents two ways of using the spectrum length: as a direct and indirect parameter indicating the measured quantity on the basis of the spectrum. There were performed the spectrum length algorithm as a digital differentiating filter with a specific frequency response. There were also analyzed more advanced differentiating filter and the possibility of frequency spectrum filter design used in an analysis of optical spectral signal. There were performed the analysis of the spectrum length method in the case of the synthetic calibration involving the use of model spectra from simulations realized by HITRAN database. There were analyzed numerically the problem of the Instrument Line Shape influence on the synthetic spectra and results of the determining the content of components by the minimizing the difference of spectral length.

PL

Do ilościowej interpretacji widm optycznych wykorzystuje się wiele różnych algorytmów. W typowych zagadnieniach spektroskopii laboratoryjnej wykorzystuje się m. in. metody regresji CLS, PCR PLS. Interpretacja widm to często proces wieloetapowy, w którym w zależności od rodzaju widm wykorzystuje się modyfikację poszczególnych metod regresji lub też stosuje się specjalne metody dedykowane. Jedną z takich metod jest algorytm długości konturu lub też długości widma. Jego podstawowa wersja jest bardzo prosta pod względem matematycznym. Została zaproponowana do analizy widm ze spektroskopii otwartej ścieżki OP-FTIR, dla której występują znaczące fluktuacje linii bazowej widma. Długość widma jest parametrem, który jest odwzorowany bezpośrednio na zawartość danego składnika gazowego. Niezależnie od algorytmu długości widma powstała metoda, w której długość różnicy dwóch widm (mierzonego i odniesienia) służy do porównania widm. Minimalna długość różnicy widm jest wskaźnikiem ich najlepszego dopasowania. W pracy porównane zostaną obydwa sposoby wykorzystania długości widma: jako parametru bezpośrednio lub pośrednio wskazującego wielkość poszukiwaną na podstawie widma. Przeanalizowany zostanie algorytm długości widma jako cyfrowy filtr różniczkujący posiadający określoną charakterystykę częstotliwościową. Przeanalizowane zostanie zagadnienie wykorzystania bardziej zaawansowanego filtru różniczkującego oraz możliwość uwzględnienia w wyborze i projektowaniu filtra widma częstotliwościowego optycznego sygnału spektralnego. Kolejno poruszanym zagadnieniem będzie analiza metody długości widma w przypadku tzw. kalibracji syntetycznej polegającej na wykorzystaniu jako widm wzorcowych widm pochodzących z symulacji wykorzystujących bazę danych Hitran. Przeanalizowany numerycznie zostanie problem wpływu kształtu odpowiedzi instrumentu pomiarowego na syntetyczne widma i wyniki wyznaczania zawartości składników metodą minimalizacji długości różnicy widm.

2

Synthesis and optical properties of CdSe/CdS core/shell nanocrystals

Gadalla A., Abd El-Sadek M. S., Hamood R.

Materials Science Poland

|

2019

|

Vol. 37, No. 2

149--157

EN

This paper attempts to describe an effective method for producing a composite of quantum dots consisting of CdSe (core) with CdS (shell). This nanoparticles composite was synthesized from modified organometallic precursors. The sizes of the nanoparticles were estimated from X-ray diffraction data using Debye-Scherer formula and compared with high resolution electron microscopy (HRTEM) and optical spectra. The shape of CdSe/CdS NPs is nearly spherical and revels that the CdS shell with the thickness ~0.6 nm almost fully covers the CdSe core (higher contrast). Using UV-Vis spectroscopy, a systematic red shift in the absorption and emission spectra was observed after the deposition of CdS which confirms the shell growth over the CdSe core. In the CdSe/CdS core/shell structure, the holes are confined to the core, while the electrons are delocalized as a result of similar electron affinities of the core and the shell. The increased time of synthesis resulted in shell thickness increase. The observed properties of prepared CdSe/CdS QDs demonstrate the capability of the nanocomposite for using in the optoelectronics and photonics devices.

3

Widma optyczne emitowane przez wyładowania elektryczne generowane w oleju elektroizolacyjnym

Kozioł M., Boczar T.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2016

|

R. 92, nr 10

50--53

PL

W artykule zaprezentowano zarejestrowane metodą spektrofotometrii optycznej rozkłady widmowe promieniowania emitowanego przez wyładowania elektryczne generowane w mineralnym oleju elektroizolacyjnym. Pomiary przeprowadzono dla trzech układów iskierników: układ ostrze-ostrze, układ ostrze-płyta i układ do wyładowań powierzchniowych.

EN

The article presents the spectral distributions of optical radiation emitted by electrical discharges generated in electroinsulating mineral oil measured by optical spectrophotometry methods. Measurements were carried out for three basic forms of electrical discharges generated in a pointpoint system, point-plane system and a system for surface discharges.

4

Aparatura do zderzeń wiązek jonowych z gazowymi tarczami

Pranszke B.

Zeszyty Naukowe Akademii Morskiej w Gdyni

|

2015

|

nr 91

142--148

PL

W artykule opisano aparaturę przeznaczoną do badań zderzeniowych procesów z udziałem tzw. gorących atomów (występujących w przestrzeni kosmicznej i mogących w istotnej skali oddziaływać z materiałami powłok znajdujących się tam obiektów technicznych). Przedstawiono wybrane wyniki badań. W szczególności skupiono się na oddziaływaniu wiatru gwiazdowego z drobinami, wchodzącymi w skład atmosfer planetarnych oraz gęstych obłoków materii międzygwiazdowej.

EN

At present, they continued research related to the stellar wind interaction with gases belonging to the ISM (interstellar medium). These studies, together with the already published results contribute to a better understanding of the fundamental processes in planetary atmospheres and space. The obtained optical spectra will enable a deeper analysis of the data collected by the telescopes Hubble, FUSE, UVES. This paper describes an apparatus designed for study of collisional processes involving the so-called hot atoms (occurring in space and could have a significant role in interactions with coatings materials found there technical objects). Selected results are presented. In particular, it focuses on the interaction of the stellar wind with particles forming the planetary atmospheres and interstellar medium.

5

Direct determination of the refraction index normal dispersion for thin films of 3, 4, 9, 10-perylene tetracarboxylic dianhydride (PTCDA)

Cisowski J, Jarząbek B, Domański M

Optica Applicata

|

2012

|

Vol. 42, nr 1

181--192

EN

The improved approach for analysis of the thin film optical spectra exhibiting the interference fringes is presented. It is shown that, based on the positions of adjacent extrema, the interference order numbers can be easily identified allowing for determination of a model-free normal dispersion of the refraction coefficient provided the film thickness is known from an independent measurement. The usefulness of the presented method is illustrated by the analysis of the reflection spectra obtained for thin films of 3, 4, 9, 10-perylene tetracarboxylic dianhydride (PTCDA) with various thicknesses determined with the atomic force microscopy (AFM).