Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: optical profile

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Zastosowanie profilometrii optycznej w badaniach jonitów

Sofińska-Chmiel W., Mendyk E., Hubicki Z., Kołodyńska D.

Przemysł Chemiczny

2015

T. 94, nr 5

711-714

Jonity chelatujące (zwane również jonitami kompleksującymi) stanowią grupę wymieniaczy jonowych, zdolnych do selektywnej sorpcji jonów metali przejściowych. Ich zdolności sorpcyjne zależą w dużym stopniu od rodzaju grup funkcyjnych. Na szczególną uwagę zasługują jonity z grupami bis(2-pirydylometylo) aminowymi, zwanymi również bispikoliloaminowymi. Przykładami tego typu jonitów są Dowex M 4195 oraz Lewatit MonoPlus TP 220. W przedstawionej pracy do badań procesu sorpcji jonów Cu(II) na tych jonitach zastosowano profilometr optyczny, umożliwiający precyzyjne, przestrzenne obrazowanie mikrogeometrii powierzchni wybranych materiałów. Badania prowadzono dla roztworów o niskim pH. Warto podkreślić, że tego typu badania, ze szczególnym uwzględnieniem mikrogeometrii i analizy chropowatości przeciętych ziaren w/w jonitów (w różnych ich miejscach), nie były dotąd opisane w literaturze.

Two com. ion exchange resins with bis(2-pyridylmethyl)amine groups were studied for structure and roughness before and after sorption of Cu(II) ions by a static method. Optical microscopy was used to det. the physicochemical properties of the resins. Linear maps of the elemental compn. on the cross section of the resin beads after Cu(II) sorption. Some small differences between the studied resins were evidenced.

Porównanie pomiarów chropowatości tlenku indowo-cynowego (ITO) mikroskopem sił atomowych i profilometrem optycznym

Janeczek K., Araźna A., Futera K., Kozioł G., Stęplewski W., Lipiec K.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2013

Vol. 54, nr 4

84-86

Warstwa tlenku indowo-cynowego (ITO) naniesiona na podłoże giętkie lub sztywne znajduje obecnie zastosowanie do wytwarzania organicznych diod elektroluminescencyjnych (OLED) lub organicznych ogniw fotowoltaicznych (OPV). Zazwyczaj przed nałożeniem warstw funkcjonalnych wykonywanej struktury, ITO jest poddawane czyszczeniu. W artykule opisano wyniki badań chropowatości warstwy ITO metodą mikroskopii sił atomowych i profilometrii optycznej. Badane próbki przed pomiarami poddano czyszczeniu alkalicznemu lub czyszczeniu w acetonie i alkoholu etylowym lub alkoholu izopropylowym. Niezależnie od zastosowanej techniki pomiarowej wszystkie metody przygotowania powierzchni ITO powodowały wzrost jej chropowatości w stosunku do próbki w stanie dostawy. Stwierdzono również, że wartości chropowatości zmierzonej profilometrem optycznym były wyższe niż uzyskane mikroskopem sił atomowych.

Indium tin oxide (ITO) layers evaporated on elastic or rigid substrates are currently used for manufacturing organic light-emitting diodes (OLED) or organie photovoltaic cells (OPV). Before functional layers of a fabricated device are deposited on ITO substrate its surface is usually cleaned. In this paper, the results of ITO layer roughness measurements by atomic force microscopy and optical profiler are reported. The specimens were treated with alkaline cleaning or ultrasonic degreasing in acetone and ethyl or isopropyl alcohol. Irrespective of measurement technigue all treatment methods lead to increase of ITO surface roughness when compared to the untreated sample. It was affirmed that the values of ITO roughness measured with optical profilometry were higher than measured with atomic force microscopy.