Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 4

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  oprogramowanie metrologiczne
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
Opisano historię programów pomiarowych do obsługi współrzędnościowych maszyn pomiarowych (WMP), wdrożonych w trakcie kilkudziesięcioletniej działalności Instytutu Zaawansowanych Technologii Wytwarzania – IZTW (dawniej: Instytutu Obróbki Skrawaniem – IOS) w zakresie produkcji, użytkowania i modernizacji WMP.
EN
The history of the implemented measuring programs for the operation of coordinate measuring machines (CMM) during the decades-long activity of The Institute of Advanced Manufacturing Technologies (former: The Institute of Metal Cutting) in the field of production, use and modernization of CMMs has been described.
EN
Legal Metrology is the economic sector where measuring instruments subject to legal control (taximeters, electricity meters, etc.) are used. In this field, constant growth of Measuring Instruments using ICT technology is evident. For this reason, higher security requirements need to be imposed as stated by the relevant EU directives. Risk assessment is an additional security requirement for software, based on current regulations Directive 2014/31/EU and Directive 2014/32/EU (MID) that state: "The documentation shall make it possible to assess the instrument's conformity to the relevant requirements and shall include an adequate analysis and assessment of the risk(s).'' Several methods for risk assessment of software exist, but based on this statement above, it is necessary to find appropriate solutions for the realization of risk assessment for metrological software, on the base of its technical documentation. The Welmec Working Group 7 has developed a Risk Assessment method, based on international standards. But in this article a simpler method is proposed, aiming for advantages such as universality, simplicity and transparency, in contrast with already existing methods. The combination of these advantages in the proposed method will allow its simple understanding and implementation for all active stakeholders (both the Notified Bodies and the manufacturers).
PL
W Głównym Urzędzie Miar wykonuje się badania taksometrów dla potrzeb oceny zgodności tych przyrządów, zgodnie z Dyrektywą MID. W ramach doskonalenia metodyki badań wpływu jakości zasilania taksometru na rejestrowane pomiary zbudowano stanowisko badań wyposażone w program sterujący zasilaczem. Dzięki zastosowanym technologiom informatycznym uzyskano poprawę powtarzalności procesu pomiarowego, obniżono uciążliwość wykonywania badań oraz podniesiono jakość uzyskiwanych wyników, w tym dokładność wykonywanych pomiarów.
EN
The tests of taximeters supply voltage perturbations are performed in Central Office of Measures. This tests are part of conformity assessment procedure for taximeters according to MID Directive. For performing tests according to OIML and ISO regulations new measurement system was build. The measurement system contain special software for automation voltage supply characteristic. Automation results in better reproducibility of measurement process parameters, shorter time of measurements and better quality of measurement results.
PL
W pracy przedstawiono zagadnienia związane z badaniem oraz analizą technologicznej (otrzymanej w wyniku zabiegów obróbkowych) oraz eksploatacyjnej (wywołanej eksploatacją obiektu technicznego) warstwy wierzchniej. Zaprezentowano i krótko omówiono różne metody i urządzenia pomiarowe. Możliwości wykorzystania tych urządzeń w badaniach stanu warstwy wierzchniej (struktury geometrycznej powierzchni) zarówno technologicznej (TWW) jak też eksploatacyjnej (EWW) pokazują wybrane (przykładowe) wyniki badań, które otrzymano dzięki specjalistycznemu oprogramowaniu metrologicznemu.
EN
The paper presents issues related to the study and analysis of the technological surface layer (obtained as a result of the machining process) and the operational surface layer (caused by the operation of a technical object. In the paper, various techniques used for the measuring of the surface geometric structure were presented and briefly discussed. The possibilities of applying these devices to the studies of the surface layer (surface geometric structure), both technological (TWW) and operational (EWW), are illustrated with sample study results obtained by means of sophisticated metrology software.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.