Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: odchylenia długości bramek tranzystorów

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Model wpływu rozrzutu długości bramek tranzystorów MOS na równomierność rozprowadzania sygnału

Kasprowicz D.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2005

Vol. 46, nr 10

14-17

Wzrost rozmiarów układów scalonych wymusza stosowanie drzew zegarowych o coraz większej liczbie buforów (wzmacniaczy) regenerujących sygnał zegara. Efektem ubocznym jest jednak silniejszy wpływ rozrzutu opóźnień buforów na rozproszenie sygnału zegara (ang. clock skew). Najistotniejszym składnikiem rozrzutu opóźnień buforów w układach CMOS są zaburzenia długości bramek tranzystorów. W artykule zaproponowano prostą metodę szacowania wpływu tych zaburzeń na rozkład statystyczny rozproszenia sygnału zegara. Przedstawiony model uwzględnia zarówno systematyczne jak i losowe odchylenia długości bramek tranzystorów. Jest przy tym dokładny i wydajny obliczeniowo, co pozwala stosować go w pętli Monte Carlo.

As the dimensions of VLSI circuits grow larger, the number of repeaters (buffers) in clock trees must increase to ensure good clock-signal quality. However, clock skew grows with the number of repeaters as manufacturing variations cause mismatch in repeater delays. The predominant source of repeater delay deviations in CMOS circuits is transistor gate-length variability. This paper describes a simple method for estimating the dependence of clock skew distribution on repeater delay variations as well as on the number of buffering stages and circuit size. The introduced model allows for both systematic and random gate-length variations. The model is accurate and computationally efficient, which makes it a useful tool for Monte Carlo simulations.