Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Points mapping in the central-reflexive projection on conical surface

Ułamek K

Journal Biuletyn of Polish Society for Geometry and Engineering Graphics

|

2009

|

Vol. 19

79--85

EN

The paper suggests the Solution to the problem of seeking the mirror reflection of any point from the flank surface of a cone in relation to the eye point, which is the centre of projection, on the grounds of descriptive geometry. To accomplish this goal a couple of spatial curves is used, whose point of interception is the sought point.

PL

Celem tej pracy było zbudowanie modelu geometrycznego, który pozwoliłby zrealizować odwzorowanie odbicia dowolnego punktu Ρ znajdującego się w przestrzeni rzutowej S³ w zwierciadle utworzonym na powierzchni bocznej stożka γ2. Należy znaleźć taki punkt R na powierzchni γ2, aby promień wychodzący z punktu Ρ po odbiciu w R przebiegł przez środek rzutowania Ε (przez oko). Odnalezienie punktu odbicia w sposób przybliżony (z dowolną dokładnością) okazuje się być możliwe na gruncie geometrii wykreślnej po przeanalizowaniu współzależności jakie występują pomiędzy elementami tej sytuacji geometrycznej. Są to: 1. R należy do powierzchni γ2, 2. prosta prostopadła do γ2 w punkcie R (prosta normalna n) jest prostopadła do prostej 1, prostej tworzącej stożek przez obrót wokół prostej s, 3. prosta η ma punkt wspólny z prostą s, 4. prosta η ma punkt wspólny z prostą k, prostą utworzoną z punktów Ε i Ρ (niech przecięciem tych prostych będzie punkt X), punkt ten leży pomiędzy punktami Ρ i E, 5. kąt XRP i kąt XRE są równe co do wartości i współpłaszczyznowe. Droga do odnalezienia poszukiwanego punktu składa się z trzech etapów. W pierwszym etapie poszukiwany jest zbiór punktów, który spełnia spośród wymienionych uprzednio warunki 1,2,3 i 4. Powstaje w ten sposób zbiór punktów, który możemy zapisać jako krzywą przestrzenną na rysunku. W drugim etapie konstrukcji poszukujmy zbioru punktów, które spełniałyby warunki 2,3,4 i 5. Dzięki temu otrzymujemy drugą krzywą przestrzenną. W trzecim etapie odnajdujemy punkt R jako część wspólną obu tych krzywych.

2

The method of the measurement of mean value of the electric charge of aerosol particles 0.3 - 10 [micro]m

Grabarczyk Z.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2008

|

R. 84, nr 12

167-169

EN

The most of aerosol particles grater than 60 nm, is electrically charged. The charge influences the efficiency of particle settlement on conducting objects and deposition in human air-ways. For evaluating the possible increase of the deposition of industrial aerosols in size range 0.3 - 10 [micro]m, the method of measuring the mean charge distribution was developed. This was based on comparison of the aerosol spectrum of total number of aerosol particles and the spectra where the part of charged particles was removed by electrostatic precipitator (electrostatic trap).

PL

Większość cząstek aerozolu większych od 60 nm jest naelektryzowana, co wpływa na skuteczność ich osiadania na powierzchniach przewodzących i depozycji w drogach oddechowych. W celu oszacowania możliwego wzrostu depozycji opracowano metodę pomiaru średniego ładunku cząstek z zakresu 0.3-10 [mikro]m, przez porównanie widma cząstek pyłu w powietrzu i po przejściu przez pułapkę elektrostatyczną.

3

Własności optyczne cienkich warstw poliazometyny

Jaglarz J., Szopa P., Cisowski J., Domański M., Burian A.

Prace Naukowe Instytutu Technologii Organicznej i Tworzyw Sztucznych Politechniki Wrocławskiej. Konferencje

|

2003

|

Vol. 52, nr 25

342-345

PL

Wykonano pomiary odbicia zwierciadlanego i dyfuzyjnego od cienkich warstw poliazometyny naniesionych na podłoża szklane i krzemowe. Warstwy były nanoszone metodą polikondensacji składników wyjściowych. Pomiary odbicia widmowego w zakresie długości fal 350 nm - 860 nm. przeprowadzono za pomocą światłowodowej sondy odbiciowej i sfery całkującej połączonych ze spektrofotometrem PC 2000. Stwierdzono występowanie dużych niejednorodności po grubości w warstwach poliazometynowych otrzymywanych przez naparowanie na podłoża oraz obok silnej absorpcji w zakresie widmowym 350 nm - 500 nm rozpraszanie Rayleigh'a dla fal dłuższych od 600 nm.

EN

Specular and diffusion reflection measurements for thin of polyazomethines on glass and Si substrate have been performed. Measurements of reflection spectra for wavelength in range 350 nm - 860 nm have been made by optical fibre reflection probe and integration sphere. The results obtained in our study have shown differences of thickness for thin films polyazomethines and strong absorption for wave range from 350 nm to 500 nm. Strong Rayleigh diffusion for wavelength longer than 600 nm has been noticed.