Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

User interface in interactive virtual environment based on real location

Smagur A., Nowak K.

Acta Innovations

|

2017

|

no. 25

29--37

EN

Nowadays we see an increase of interest in immersive technologies connected with new modes of communication. With novel devices possibilities open for research in the field of Human-Computer Interfaces (HCI) and Virtual Reality (VR). This project is focused on the creation of interactive virtual reality scenery and on the verification of usefulness of different interfaces in such contexts. We designed a virtual urban space that is accessible to users through VR goggles: Oculus Rift paired with Leap Motion. We prepared an experiment to test how well users can interact in proposed virtual environment through this setup. Results show that in simple tasks users can quickly learn on their own how to use given interface without tutoring.

2

System detekcyjny elektronów wtórnych I wstecznie rozproszonych do obrazowania 3D w niskopróżniowej SEM

Słówko W., Krzysztof M.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2012

|

Vol. 53, nr 2

34-36

PL

Przedstawiono nowe rozwiązanie systemu detekcyjnego, przeznaczonego do kierunkowej detekcji elektronów w niskopróżniowej skaningowej mikroskopii elektronowej, w celu trójwymiarowej (3D) rekonstrukcji topografii powierzchni metodą wielodetektorową. Kluczowym zespołem systemu jest głowica próżniowo-detekcyjna, stanowiąca komorę pośrednią układu pompowania różnicowego, w której wnętrzu zainstalowano czterokwadrantową diodę PIN jako detektor elektronów wstecznie rozproszonych (BSE). Rolę detektora elektronów wtórnych (SE) typu jonizacyjnego, pełni przesłona dławiąca przepływ gazu. Pokazano, że w dyskutowanym rozwiązaniu można uzyskać kierunkową detekcję BSE, niezakłóconą w skutek rozpraszania w gazie jak i detekcję SE w szerokim zakresie ciśnień.

EN

A new system for directional detection of electrons in low vacuum scanning electron microscopy (LVSEM) is presented. The system is destined for three dimensional (3D) reconstruction of the surface topography with the multi detector method. A main unit of the system is the vacuum-detection head playing the role of an intermediate chamber of the differential vacuum system and containing a four-quadrant PIN diode as the backscattered electron (BSE) detector. The role of a secondary electron (SE) detector of the ionization type is performed by the aperture throttling gas flow. Authors show that both the directional BSE detection undisturbed by scattering and SE detection can be obtained in a wide range of gas pressures.

3

Trójwymiarowa rekonstrukcja powierzchni w SEM z zastosowaniem półprzewodnikowego detektora elektronów wstecznie rozproszonych

Słówko W., Jeziorski Ł., Krysztof M.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2011

|

Vol. 52, nr 11

53-55

PL

Przedstawiono system przeznaczony do trójwymiarowej (3D) rekonstrukcji powierzchni w skaningowym mikroskopie elektronowym (SEM), złożony z kwadrupolowego detektora półprzewodnikowego elektronów wstecznie rozproszonych, czterokanałowego sytemu cyfrowej akwizycji sygnałów i systemu przetwarzania opartego na komputerze klasy PC. Autorzy zastosowali tu metodę wykorzystującą specyficzny rozkład kątowy elektronów wstecznie rozproszonych na powierzchni próbki. Algorytmy przetwarzania sygnałów związane z procesem rekonstrukcji powierzchni zostały uzupelnione o procedury kompensacji błędów metody. Dzięki temu, po wstępnej kalibracji, system pozwala odtworzyć topografię powierzchni z dokładnością lepszą niż 10%, jeśli nachylenia nie przekraczają 60°. Pozwala także na odtworzenie kształtu bardzo gładkich powierzchni i może działać bardzo szybko, niemal w "czasie rzeczywistym" dostarczając informacji o kształcie powierzchni obiektów niezależnie od ich składu materiałowego.

EN

A 3D surface reconstruction system for SEM consisting of a quadruple semiconductor detector of backscattered electrons, a four-channel framegrabber and PC-based processing unit, is presented. The authors explored a method that takes advantage of the angular distribution of backscattered electrons to obtain quantitative topography contrast and visualise the surface shape. Software processing algorithms were developed to carry out the reconstruction process and compensate several types of errors, inherent in the method. After pre-calibration, the system allows to obtain surface topography with accuracy better than 10% when maximum slope angles are below 60°. It is also capable to reconstruct the shapes of very smooth surfaces and can operate very quickly, almost in real-time, providing reliable, composition-independent reconstructions for a broad class of materials.

4

Trójwymiarowe obrazowanie powierzchni w skaningowym mikroskopie elektronowym

Paluszyński J., Słówko W.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2006

|

Vol. 47, nr 4

26-28

PL

Przedstawiono zasadę działania i budowę systemu służącego do syntezy trójwymiarowych obrazów topografii powierzchni otrzymywanych w skaningowym mikroskopie elektronowym (SEM). Synteza obrazu trójwymiarowego wykorzystuje właściwości rozkładu kątowego elektronów wtórnych i wstecznie rozproszonych. Układ czterech scyntylacyjnych detektorów elektronów wtórnych jest źródłem sygnałów zależnych od lokalnego nachylenia analizowanej powierzchni. Układ akwizycyjny przetwarza te sygnały na postać cyfrową i transmituje do komputera klasy PC, gdzie są zapamiętywane w formie czterech obrazów dwuwymiarowych, różniących się kierunkiem oświetlenia badanego obiektu. Specjalne oprogramowanie realizuje algorytm syntezy trójwymiarowej.

EN

A system for quantitative three-dimensional synthesis of surface topography for a scanning electron microscope (SEM) is presented. The three-dimensional image synthesis is based on the angular distribution of secondary and backscattered electrons. A quadruple secondary electron detector unit allows obtaining signals dependent on local surface inclination. An acquisition unit converts these signals to their digital form and transmits them to a PC, where they are stored as four images enlighten from different directions. Special software carries out the process of the 3D imaging in many possible manners. Errors and potential applications of the method are also discussed.

5

X-ray tomography imaging: a necessary tool for materials science

Babout L.

Automatyka / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie

|

2006

|

T. 10, z. 3

117-124

EN

This paper gives an overview on different examples of X-ray tomography applications in the field of materials science. It highlights the necessity of applying the technique to investigate scientific problem which cannot be solved with conventional imaging tools.

PL

Artykuł przedstawia przegląd rozmaitych zastosowań tomografii rentgenowskiej w dziedzinie materiałoznawstwa. Podkreśla konieczność zastosowania tej techniki w celu rozwiązywania problemów naukowych, które nie mogą być wyjaśnione za pomocą typowych narzędzi obrazowania.